等离子体光谱原理2004.10技巧.ppt

等离子体光谱分析原理;提纲;原子发射光谱分析发展简史;2. ICP光源的物理化学基础;2.3为什么要用Ar气作为工作气体;2.4 ICP 的物理特性;2.4.2 ICP焰的温度分布及其测量;;;;ICP的径向温度分布;2.4.3 电子密度;2.5 ICP光源的光谱特性;等离子体光源的分区;第三章 ICP光谱仪器;ICP光谱装置原理图;;;3.14 石英晶体振荡器;3.1.5 振荡频率的影响;光源稳健性影响;;3.2.2 常用炬管: 一体化石英炬管及组合炬管;3.23 等离子体稳定曲线;3.2.4 Ar ICP及Ar/N2 ICP的检示限;3.2.5 炬管延伸管, 加长炬管;3.3 进样装置种类;3.3.1 玻璃同心雾化器;毛细管内径0.1-0,2mm,气隙0.01-0.035vmm;气动雾化器特性;雾滴直径和提升量;气动雾化器的提升量;载气压力的影响;盐量的影响;玻璃同心雾化器使用注意;3.3.2 交叉雾化器;交叉雾化器的性能;交叉雾化器和同心雾化器的比较;3.3.3 Babington雾化器-高盐雾化器;高盐量雾化器的性能(同同心雾化器比较), 及特点;3.3.4 超声波雾化器;特点;固体进样器 ;氢化物 发生器;连续氢化物发生器;各类进样方法的比较;微量试液进样装置;微量同心雾化器;微量雾化器的效率特性;微量雾化器的特性;3.3.5 雾室;常用雾室的种类;3.4 分光装置;3.4.2 几种常见的分光装置;平面光栅分光系统;中阶梯光栅分光系统;4 光谱分析原理;样品在光源中的过程;原子光谱的产生;;4.2 定量分析原理;4.3 标准曲线法定量分析;标准曲线的弯曲: 自吸收, 强度饱和, 干扰;4.4 其他定量分析方法;4.4.2 内标法 ;内标选择;4.5 标准溶液配制;4.6 光谱分析条件;;;;;;高频功率与基体效应关系;4.6.2 工作气体流量影响;载气对基体效应的影响;4.6.3 观测高度;54.6.4 观测高度与Texc关系;4.6.5 进样量的影响;4.6.6 光度精密度与谱线度关系;4.6.7 稳健性条件对盐酸浓度对VII关系的影响;4.7 灵敏度,检出限和精密度;;4.8 干扰效应;4.8.2 化学干扰;4.8.2 化学干扰;4.8.2 化学干扰;4.8.3 电离干扰;4.8.4 光谱干扰;4.8.4 光谱干扰;弯曲背景的扣除;重叠谱线干扰的校正;碱土金属高浓度对谱线变宽造成的干扰;碱土金属高浓度对谱线变宽造成的干扰;OH基对分析线的干扰;OH基对V线的干扰;OH基对VII310.230nm的干扰;Al盐对光谱背景的影响;ICP 光源中分子光谱干扰;有机样品的分子谱带干扰;5 解决光谱干扰的方法;光谱干扰的校正;干扰系数法校正的计算;干扰系数法应用注意;分光装置对干扰系数的影响;校正干扰的步骤;基体效应;碱金属对碱金属的基体干扰;碱金属对非碱金属的基体效应;钙基体效应;稀土元素的基体效应; 观察高度对基体效应的影响;基体对光谱背景及其RSDB的影响;基体对检测限的影响;抑制基体效应的方法;内标的效果;ICP光谱技术的特点;检测限;精密度;基体效应由于化学干扰和电离干扰产生的基体效应低;多元素同时测定;线性范围较宽;;;