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测量系统分析 Measurement System Analysis （第三版） ;目录;课程前言;仪器检验如过时，立即召回不可迟。;（一）MSA简介;（二）MSA发展史;上述技术由Bill Wiechec在1978年6月进行总结，出版了雪佛莱的《测量系统分析》一书（手册）； 以后手册增加了内容：奥兹莫比尔（OLD SMOBILE是GM公司的子公司，生产Cadillac 凯迪拉克汽车）的Shery Hansen、Ray Benner编写了ANOVA法和关于置信区间的内容； 八十年代，雪佛莱的Lary Marruffo、John Lazur修改了雪佛莱手册，提出了新的测量系统章节并强化了一些概念，如：稳定性、线性和方差（ANOVA）. GM统计评审委员会进行了最新的修改，增加了零件内变差的标识和鉴定概念，并对统计稳定性做了更全面的描述;（三）MSA详细解释;适用范围： 用于对每一零件能重复读数的测量系统。 测量和测量过程： 赋值给具体事物以表示它们之间关于特殊特性的关系； ??值的过程定义为： 测量过程 赋予的值定义为：测量值 测量过程看成一个制造过程，它产生数字（数据）作为输出。;量 具： 任何用来获得测量结果的装置；经常用来特指在车间的装置；包括用来测量合格／不合格的装置。 测量系统： 用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件、以及操作人员的集合；用来获得测量结果的整个过程。;测量变差： 多次测量结果变异程度； 常用σm表示； 也可用测量过程变差RR表示(GRR)。 注：;测量系统质量特性： 测量成本； 测量的容易程度； 最重要的是测量系统的统计特性。 常用统计特性： 重复性（针对同一人，反映量具本身情况） 再现性（针对不同人，反映测量方法情况） 稳定性 线性（针对不同尺寸的研究） 注：对不同的测量系统可能需要有不同的统计特性（相对于顾客的要求）。;测量系统对其统计特性的基本要求： 测量系统必须处于统计控制中； 测量系统的变异必须比制造过程的变异小； 变异应小于公差带； 测量精度应高于过程变异和公差带两者中精度较高者 （十分之一）； 测量系统统计特性随被测项目的改变而变化时，其最大的变差应小于过程变差和公差带中的较小者。 评价测量系统的三个问题： 有足够的分辨力；（根据产品特性的需要） 一定时间内统计上保持一致（稳定性）； 在预期范围（被测项目）内一致，可用于过程分析或过程控制。（线性）;评价测量系统的试验： 确定该测量系统是否具有满足要求的统计特性； 发现哪种环境因素对测量系统有显著的影响； 验证统计特性持续满足要求（RR）。 程序文件要求： 选择待测项目和环境规范； 规定收集、记录、分析数据的详细说明； 关键术语和概念可操作的定义、相关标准说明、明确 授权。 包括：a. 评定，b. 评定机构的职责，c. 对评定结果的处理方式及责任;第二章 分析 / 评定测量系统的方法 测量系统变差的类型： 偏 倚 重 复 性 再 现 性 稳 定 性 线 性 ;偏 倚： 定义： 是测量结果的观测平均值与基准值的差值,又称为“准确度”。 注：基准值可通过更高级别的测量设备进行多次测量取平均值。 ;确定方法： 在工具室或全尺寸检验设备上对一个基准件进行精密测量； 让一位评价人用正被评价的量具测量同一零件至少10次； 计算读数的平均值。 偏倚原因： 基准的误差； 磨损的零件； 制造的仪器尺寸不对； 仪器测量非代表性的特性； 仪器没有正确校准； 评价人员使用仪器不正确。;重复性： 定义： 是由一个评价人，采用一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。 测量过程的重复性意味着测量系统自身的变异是一致的。 确定方法： ①采用极差图； ②如果极差图受控，则仪器变差及测量过程在研究期间是一致的； ③重复性标准偏差或仪器变差距(σe)的估计为R／d2*； ④仪器变差或重复性将为5.15R／d2* 或4.65 R； 注（假定为两次重复测量，评价人数乘以零件数量大于15） ⑤此时代表正态分布测量结果的99％. 极差图失控： 调查识别为失控不一致性原因加以纠正； 例外：当测量系统分辨率不足时。;再现性： 定义： 是由不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。 确定方法： ①确定每一评价人所有平均值； ②从评价人最大平均值减去最小的得到极差(R0)来估计； ③再现性的标准偏差(σ0)估计为R0／d2*； ④再现性为5.15R0／d2* 或3.65 R0； ⑤代表正态分布测量结果的99%。;稳定性： 定义： 是测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差。 ;零件间变差： 定义：