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第一节x射线物理性质
第一章 X射线衍射分析X-ray Diffraction Analysis;X射线衍射分析;一、概述;1895年11月5日,德国物理学家伦琴在研究阴极射线时,发现了X射线。
1912年,德国物理学家劳厄等人发现了X射线在胆矾晶体中的衍射现象,一方面确认了X射线是一种电磁波,另一方面又为X射线研究晶体材料开辟了道路。
同年,英国物理学家布拉格父子首次利用X射线衍射方法测定了NaCl晶体的结构,开创了X射线晶体结构分析的历史。
X射线在近代科学和工艺上的应用主要有以下三个方面(1)X射线透视技术;(2)X射线光谱技术;(3)X射线衍射技术。
利用X射线通过晶体时会发生衍射效应这一特性来确定结晶物质的物相的方法,称为X射线物相分析法。
目前,X射线物相分析法作为鉴别物相的一种有效的手段,已在地质、建材、土壤、冶金、石油、化工、高分子物质、药物、纺织、食品等许多领域中得到了广泛的应用??;X射线从本质上说,和无线电波、可见光、?射线一样,也是一种电磁波,其波长范围在0.01—100埃之间,介于紫外线和?射线之间,但没有明显的界限。;二、X射线与X射线光谱(X-rays spectrum;X射线的产生;X射线谱;(1) 连续X射线光谱Continuous X-rays spectrum
电子→靶原子,产生连续的电磁辐射,连续的X射线光谱;成因:
大量电子的能量转换是一个随机过程,多次碰撞;
阴极发射电子方向差异,能量损失随机; ;(2)X射线特征光谱characteristic X-rays spectrum;特征X射线具有特定的波长,且波长取决于阳极靶元素的原子序数,只有当管压超过某一特定值时才能产生特征X射线。特征X射线谱是叠加在连续X射线谱上的。
特征X射线的产生可以从原子结构的观点得到解释。
特征X射线的相对强度是由各能级间的跃迁几率决定的,另外还与跃迁前原来壳层上的电子数多少有关。
特征X射线的绝对强度随X射线管电压、管电流的增大而增大。
特征X射线产生的根本原因是原子内层电子的跃迁。
;跃迁定则:;特征光谱——定性依据 qualitative analysis;三、X射线与物质的相互作用;X射线的吸收系数;元素的X射线吸收光谱;吸收限的存在实际上与光电效应有关。
利用吸收限两边吸收系数相差十分悬殊的特点,可制作滤波片。;2.X射线的散射 Scatterance of X-ray;(2)非相干散射 Noninterference;3. X-射线荧光 X-ray fluorescence;Moseley 定律;4.Auger 效应;X射线与物质的相互作用Interference diffraction Compton effect
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