南京大学-X射线荧光光谱分析实验报告.docVIP

X荧光分析 一．实验目的荧光分析的原理、仪器构成和基本测量、分析方法。 2．验证莫塞莱定律，并从实验推出屏蔽常数。 3．研究对多道分析器的定标，以及利用荧光分析测量位未知样品成分及相对含量的方法。 二．实验原理 以一定能量的光子、电子、原子、粒子或其它离子轰击样品，将物质原子中的内壳层电子击出，产生电子空位，原子处于激发态。外壳层电子向内壳层跃迁，填补内壳层电子空位，同时释放出跃迁能量，原子回到基态。跃迁能量以特征射线形式释放，或能量转移给另一个轨道电子，使该电子发射出来，即俄歇电子发射。测出特征射线能谱，即可确定所测样品中元素种类和含量。 特征曲线射线根据跃迁后电子所处能级可以分为系等；根据电子跃迁前所在能级又可分为等不同谱线。特征谱线的的能量为两壳层电子结合能之差。因此，所有元素的系特征射线能量在几千电子伏到几十千电子伏之间。荧光分析中激发X射线的方式一般有三种： （1）用质子、α粒子等离子激发 （2）用电子激发； （3）用射线或低能射线激发。我们实验室采用射线激发（技术），用放射性同位素作为激发源的光管。 技术中，入射光子除与样品中原子发生光电作用产生内壳层空位外，还可以发生相干散射和非相干散射（康普顿散射），这些散射光子进入探测器，形成分析中的散射本底。另外，样品中激发出的光电子又会产生轫致辐射，但这产生的本底比散射光子本底小得多，且能量也较低，一般在以下。所以能谱特征是：特征射线峰叠加在散射光子峰之间的平坦的连续本底谱上。如图1能谱示意图所示。 图一：能谱示意图 测量特征射线常用探测器，它的能量分辨率高，适用于多元素同时分析，也可选用或高纯探测器，但均价格昂贵。 在荧光分析中，对于轻元素（一般指的元素）通常测其射线，对于重元素（的元素），因其射线能量较高且比射线强度弱，常测其射线，这样测量的特征射线能量一般在以下。正比计数管在此能量范围，探测效率较高，其能量分辨率虽比探测器差，但远好于闪烁探测器，质量好的正比管处分辨率优于，能满足学生实验的需要。 荧光分析可以同时测出样品中所含元素种类和各元素绝对或相对含量。所含元素种类可以由测出的特征射线能量与已知的各元素特征射线能量值相对照识别出来。 元素的绝对含量可由下式计算： 其中为所测元素的一个特征峰计数（扣除本底后的峰面积），为该元素的原子量，为入射粒子数，为特征射线产生截面，表示射线或射线，为探测该特征峰处的效率、为该特征射线在样品中的透射率，对薄样品近似为1。为阿伏伽德罗常数，为探测器对样品所强立体角。样品中两种元素的含量比可由下式计算： 样品中元素的含量亦可以根据前述标准样品测得的定标曲线，用同样测试时间比较测出。 对峰重迭的谱，需要用曲线（常用高斯线）拟合法，算出峰面积。 年莫塞莱发现元素的特征射线频率与原子序数有下列关系： 式中是常数；对一定范围内的元素，不随改变。 三．实验仪器 射线源，探测器，计算机，多种样品 四．实验内容 1．荧光分析仪能量-道址关系。 可以选一组特征射线峰相隔较远，峰不重迭的元素，以不同的相对含量制成一组样品，在与测试样品相同的几何条件下，测出各元素的特征射线峰所在的道址和相应的计数。由特征射线能量数据表查出标样中各元素特征射线的能量，作出能量一道址曲线。 2．验证莫塞茉定律 用数种纯金属样品，测出它们的特征射线能量，验证满足上述关系 3．样品测量。 荧光分析可以同时测出样品中所含元素种类和各元素绝对含量。元素绝对含量可由下式计算： 样品中两种元素的含量比可由下式计算： 通过测量样品的特征射线能量来判断样品中的元素成分 五．数据处理 1．对多种材料的荧光分析实验数据如下： 元素 道址 能量/ 线系 228 10.5515 270 12.6137 169 8.04778 132 6.40387 181 8.63886 132 6.40384 379 17.4793 327 14.9584 93 4.51084 1元硬币 156 1毛硬币 132 5毛硬币 170 表一：荧光分析实验数据 2．由表中已知元素的数据画出能量-道址图像，如下： 图二：能量-道址关系图像 对图像做线性拟合得到的一些参数为： 参数 拟合结果 置信区间 斜率 0.0448 0.04401, 0.0456 截距 0.4379 0.2546, 0.6212 线性相关系数 99.96% 表二：能量-道址关系拟合结果 故能量与道址之间的关系表达式为： 3．确定莫塞莱关系式中的常数 莫塞莱关系，而，若令，，则有 由表一中轻元素（）的数据做出的图像，并且进行线性拟合，得 图三：的关系图像 对图像做线性拟合得