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第四章 衍射强度及衍射仪 §4-1 多晶体衍射强度的概念 §4-2 结构因子 §4-3 影响衍射强度的其它因数 §4-4 X射线衍射仪 §4-1 多晶体衍射强度的概念 X射线衍射线强度可以用其绝对值和相对值表示 1．绝对强度：即衍射X射线的能量 绝对强度的测量无实用意义，一般不测。 2．相对强度：指同一衍射图样上各衍射线 强度之比。 衍射线相对强度的测量 ⑴ 目测法比较确定 ⑵ 仪器测量 ⑶ 计算确定 当精度要求不高时，可用最大强度Imax来表 示相对强度。 衍射线强度测量示意图 多晶体衍射环单位弧长上的累计强度I 式中： I0 ： 入射X射线强度 λ： 入射X射线波长 R ： 相机半径 e、m： 电子电荷、质量 c ： 光速 V ： 试样被照射的体积 v ： 单胞的体积 FHKL： 结构因子 Phkl： 多重性因子 φ(θ)：角因子 e-2M： 温度因子 R(θ)： 吸收因子 §4-2 结构因子FHKL 一、一个电子对X射线的散射（极化因子） 二、一个原子对X射线的散射（原子散射因子） 原子是由电子及原子核组成的，原子核也具有电 荷，所以原子核也应该散射X射线。 从汤姆逊公式可知，散射强度与引起散射的粒子质 量的平方成反比。 原子核的质量是电子质量的1840倍（则一个原子的 散射强度只有电子的1/18402 ），所以原子核引起 的散射线的强度极弱，可以忽略不计。 原子散射仅指原子中所有电子对X射线的散射。 三、单胞对X射线的散射及结构因子 对于简单晶胞，每个晶胞只含有一个原子，所以简单晶胞的散射强度与一个原子的散射强度相同。 对于复杂晶胞，由于原子的位置及种类影响衍射线强度，某些衍射线可能消失，或使其强度减弱。 1、系统消光 (a) (b) (a) 简单点阵（001）面的剖面图 (b) 体心点阵（001）面的剖面图 由于原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起的某些方向上衍射线消失的现象---系统消光。 事实再次说明，并不是所有满足布拉格方程的反射面都有衍射线存在，即：产生衍射必须满足布拉格方程，但是在满足布拉格方程的方向上，却不一定都有衍射线存在。 2、结构因子（结构因数） 复杂点阵中，各原子占据不同的坐标位置，它们的散射振幅和位相各不相同，单胞中所有原子散射的合成振幅不可能等于各原子散射振幅的简单代数相加，为此，引入参量FHKL2--结构因数来表征单胞相干散射与单电子散射间的对应关系： 应用上式计算结构因数时，必须知道原子的种类，以求 fj ，晶胞中各类原子的数目及坐标位置。 例如：对AuCu3固溶体 约 395℃以上时，Au、Cu原子完全无序，为FCC； 约 395℃以下时，Au、Cu原子完全有序，其中 Au 原子占据角顶位置[[0 0 0]] Cu原子占据面心位置[[1/2 1/2 0]]、[[1/2 0 1/2]]、[[0 1/2 1/2]] 有序化过程发生原子排列的变化，从而引起衍射线强度的变化。 看衍射线的强度有何变化？--计算结构因数 1）完全无序时 每个晶胞中含有4个平均原子（0.75Cu+0.25 Au），（分布无规律，统计概念），原子散射因数为：f平均 = （0.75fCu+0.25f Au），其坐标位置为 [[0 0 0]]、[[1/2 1/2 0]]、[[1/2 0 1/2]]、[[0 1/2 1/2]]。 F2 = f2平均[1+ cos（H+K）π+ cos（H+L）π+cos（K+L）π]2 当HKL为同性数时，F2 =16 f2平均 当HKL为异性数时，F2 =0。 可见，完全无序时时，它的衍射花样与任何面心立方结构一样，在衍射花样中不存在奇、偶混杂指数的反射。 2）完全有序时 Au 原子占据角顶位置，Cu原子占据面心位置，则 F2 = f2Au+ f2Cu [cos（H+K）π + cos（H+L）π+cos（K+L）π]2 当HKL为同性数时，F2 = f2Au+ 9f2Cu 当HKL为异性数时，F2 = f2Au+ f2Cu §4-3 影响衍射强度的其它因数 在粉末法中影响X射线衍射强度的因数有5项。 1、? 结构因子 2、? 角因子（包括极化因子和罗仑兹因子） 3、? 多重性因子 4、? 吸收因子 5、 温度因子 一、多重性因子 等同晶面