纳米复合材料的表征技术.docVIP

纳米复合材料的表征技术 高分子纳米复合材料的表征技术可分为两个方面：结构表征和性能表征。结构表征主要指对复合体系纳米相结构形态的表征，包括粒子初级结构和次级结构（纳米粒子自身的结构特征、粒子的形状、粒子的尺寸及其分布、粒间距分布等，对分形结构还有分形维数的确定等），以及纳米粒子之间或粒子与高分子基体之间的界面结构和作用；而性能表征则是对复合体系性能的描述，并不是仅限于纳米复合体系。只有在准确地表征纳米材料的各种精细结构的基础上，才能实现对复合体系结构的有效控制，从而可按性能要求，设计、合成纳米复合材料。以下简要介绍一些适于纳米体系的结构测试表征技术及其应用。1、电子显微镜电子显微镜可用来研究高分子纳米粒子的形态、粒径等，其中透射电子显微镜（ＴＥＭ）分辨率满足观测纳米尺度的要求，能观察聚合物纳米粒子的形貌、分散情况、测量纳米粒子的粒径，与图像处理技术结合可用于确定纳米粒子的形状、尺寸及其分布和粒间距分布。插层纳米复合材料中粘土的剥离行为对于材料的性能有很大的影响，通过ＴＥＭ可以对其进行研究，并为材料成型工艺的控制提供理论依据。扫描电子显微镜（ＳＥＭ）更多用于聚合物表面形态的研究，如断裂表面、共混聚合物的相容性等。原子力显微镜（ＡＦＭ）技术在高聚物研究中的发展非常迅速，可以对高分子表面形貌、纳米结构微观尺寸下材料性质，包括弹性、塑性、硬度和摩擦力等进行研究，还能测定纳米粒子与高聚物