电子剪切散斑干涉ESSPI实验教案要点.doc

剪切电子散斑干涉术实验教案 一、实验目的 1. 认识散斑现象和散斑的电子记录； 2. 了解剪切电子散斑干涉的原理和用途； 3. 了解剪切电子散斑图象处理的过程 二、实验设备 剪切电子散斑干涉大多使用剪切棱镜。常见的剪切棱镜是Wollaston棱镜。该棱镜是由两个直角棱镜组成，当一束光垂直入射到棱镜表面上时，在后表面形成两束互相分开的，振动方向互相垂直的平面偏振光。这两束光互为参考光和物光而干涉, 但其振动方向互相垂直，所以需要在棱镜后加一块偏振片，使其振动方向相同。光路布置如图1所示。它的优点在于光路布置简单，两束相干光波强度基本相等，因而可达到等光强的要求。 L：扩束镜 M：反射镜 W：Wollaston棱镜 P：偏振镜 图3 剪切电子散斑干涉光路图 三、剪切电子散斑干涉术基本原理 剪切电子散斑干涉术(ESSPI)是继电子散斑干涉术后发展的一种测量位移导数的新技术。它与电子散斑干涉术不同的是在光学结构上，后续的图象处理系统是相同的。它除了电子散斑干涉术的许多优点外，还有光路简单，对振动隔绝的要求低等特点。另外，它测量的是位移导数，在自动消除刚体位移的同时对于缺陷受载的应变集中十分灵敏，因此被广泛地应用于无损检测（NDT）领域 。除此之外，它与电子散斑干涉不同，其条纹与位移导数的对应关系可以在很大程度上调节变化。 3．1 剪切电子散斑干涉术的原理 在剪切散斑照相机镜头前放置一个小角度的玻璃光楔块，光线通过此玻璃光楔块将产生偏折，在焦平面上产生与楔块的楔角相同方向的两个剪切的象。这两个象是由激光形成的，它们将在焦平面上互相干涉而形成散斑干涉图象。当两个变形前后的散斑干涉图象同时记录在一块干板上，经过处理后，将干板放在傅立叶滤波光路中，将出现一个表示物体位移偏导数的条纹图案。图1是剪切散斑的光路图。楔块的楔角为?，?是折射率，在象平面上被测量物体的剪切量。同样地，如折合到物体表面的剪切量为 (1) 其中D0和D1分别为透镜到物体表面和到成象平面的距离。这里假设楔块的楔角是沿x方向。同样的，如楔块的楔角是沿y方向的则剪切也是沿y方向。 图1 剪切散斑记录光路 对于整个物体来说，在象平面上形成了两个互相剪切的象，它们的波前分别为 (2) (3) 这里?表示光的振幅分布，和分别表示为两个剪切象的相位分布。这样，在象平面上两个象叠加结果为 (4) 其光强则为 (5) 当物体变形后，光波将形成一个相位的相应变化，变形后的光强将变为 (6) 在剪切电子散斑干涉法中，采用光电子元件（通常CCD摄象机）进行记录并直接输入计算机。它采用与电子散斑干涉法相同的信息表征模式，即用变形前后两幅散斑图象相减，其合成的记录光强为式（4）和（5）相减： (7) 这种相减方式把本底光强或者背景光强去除，而突出了由于变形引起的相位变化的结果。可以相象，当=2n?＋?/2时，n=0，±1，±2，。。。时，IT 为极大值,即为亮条纹。从（7）可以看出，通过计算机可以很快地、直接地获得表示物体位移导数的条纹图。但是由于其存在高频散斑的调制，图象质量较差，所以，必须采用滤波以及相位处理的方法进一步处理。 由（7）可知，条纹图反映了光波相位变化，这个相位变化是由物体变形引起的。图2表示了物体变形与光波相位变化的关系。 图2 物体变形与光波相位变化关系 从图2上可以得到，在物体表面上任一点变形后位移到，u,v,w是三个方向上的位移增量。光强的变化即从光源S经过物体点P到观察点O为 (8) 其中 (9) 把（9）代入式（8）并忽略小量得到 (10) 其中，， 。 对于剪切散斑，在象平面有两组散斑图，即相对应的有变形后位移到,其光程变化为 (11)