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LED内部结构及失效模式分析
二、LED内部失效模式 二、LED内部失效模式 二、LED内部失效模式 二、LED内部失效模式 二、LED内部失效模式 三、L/B不良解析 1.1、点灯不可的不良现象 a、整体灯条点灯不可亮 b、1串(或者2串)点灯不亮 c、闪烁 三、L/B不良解析 三、L/B不良解析 三、L/B不良解析 三、L/B不良解析 三、L/B不良解析 三、L/B不良解析 四、总结 * LED内部结构及失效模式分析 日期:2013/01/04 工程部解析课 一、LED发光原理及内部结构 1. LED 的发光机理 LED其核心是PN结,PN结是指在P型半导体和N型半导体之间的一个过渡层。在一定条件下,如图1.1所示,PN结中,电子从N型材料扩散到P区,而空穴从P型材料扩散到N区,就在PN结处形成一个势垒,阻止了电子和空穴进一步扩散,达到平衡状态。 当PN结外加一个正向偏置电压时,PN结势垒将降低,N区的电子将注入到P区,P区的空穴注入到N区,从而出现非平衡状态。这些新注入的电子和空穴在PN结相遇发生复合,将多余的能量以光的形式释放出来,即电能转化为光能。 图1.1 发光原理图 2. LED物理结构 LED灯珠主要由五个部分组成,它们分别是:支架、银胶、晶片、金线、环氧树脂。以下针对这五个主要部分进行分别介绍: 2.1 支架 1)支架的作用:用来导电和支撑2)支架的组成:支架由支架素材经过电镀而形成,由里到外是素材、铜、镍、铜、银这五层所组成。 2.2 银胶:1)银胶的作用:固定晶片和导电的作用。2)银胶的主要成份:银粉占75-80%、EPOXY(环氧树脂)占10-15%、添加剂占5-10%。 图1.2 LED两常见封装结构 一、LED发光原理及内部结构 2.3 晶片(Chip): 1)晶片的作用:晶片是LED的主要组成物料,是发光的半导体材料。 2)晶片的组成:晶片是采用磷化镓(GaP)、镓铝砷(GaAlAs)或砷化(GaAs)、氮化镓(GaN)等材料组成,其内部结构具有单向导电性。 3)晶片的结构:焊单线正极性(P/N结构)晶片,双线晶片。晶片的尺寸单位:mil,晶片的焊垫一般为金垫或铝垫。其焊垫形状有圆形、方形、十字形等。 2.4 金线: 1)金线的作用:连接晶片PAD(焊垫)与支架,并使其能够导通。金线的纯度为99.99%Au;延伸率为2-6%,金线的尺寸有:0.9mil、1.0mil、1.1mil等。 图1.3芯片微结构及等效电路 图1.4清晰金线图 一、LED发光原理及内部结构 2.5 环氧树脂:1)环氧树脂的作用:保护LED的内部结构,可稍微改变LED的发光颜色,亮度及角度;使LED成形。 2)封装树脂包括:A胶(主剂)、B胶(硬化剂)、DP(扩散剂)、CP(着色剂)四部份组成。其主要成分为环氧树脂(Epoxy Resin)、酸酐类(酸无水物 Anhydride)、高光扩散性填料(Light diffusion)及热安定性染料(dye)。 一、LED发光原理及内部结构 图1.5 LED实体中间部分为环氧树脂及胶体 3. LED各种类型封装实体图 图1.6 LED各种类型实体图 1. LED 失效类型及失效机理(模式) 1.1 LED 失效类型可分: 灾难性失效是指能够导致 LED 不能发光或者在正常驱动电流下只能发出微弱 光线的失效。 参数失效是指会导致关键特性偏离出可接受范围的失效。 1.2 LED 失效机理(模式)可分: A 封装失效:指的是支架锈蚀、金线断裂、封装材料(固晶胶、封装胶等)结构变化(退化)、荧光粉 失效等引起的失效。 B 芯片失效:指的是由芯片材料缺陷、电极材料劣化、PN 结结构损伤、芯片电极欧姆接触不良及芯片污 染等引起的失效。 C 电应力失效:指的是由过电流过电压冲击、过驱动、静电损伤等引起的失效。 D 热应力失效:指的是结温过高、恶劣环境等引起的失效。 E 装配失效:指的是焊接不良、装配不当等引起的失效。 2. LED 应用典型失效案例及预防 防止过电流过电压冲 击 LED 3 过电流冲击,金线烧断 做好 ESD 防护工作 —— 4、使用过程中,未做好ESD 防护,导致 LED PN 结被静电击穿 做好 EOS防护,防止过电流过电压冲击或 者长时间驱动 LED 2、过电 流 、过 电 压 冲 击 /驱动,芯片烧毁(开 路或短路) 做好 LED 散热作, 保证 LED 的散热通 道顺畅(焊接时防止 LED 悬浮、倾斜) 1、LED
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