不同射线检测方法讲义重点.pptVIP

射 线 检 测 材料成型及控制工程教研室 石端虎 定义：射线检测是利用射线可穿透物质和在物质中有衰减的特性来发现缺陷的一种探伤方法。 分类 X射线－波长0.001~0.1nm ? 射线－波长0.0003~0.1nm 高能射线 特点 缺陷种类、大小直观 有记录 对裂纹不敏感 需要防护 设备、操作、成象较复杂 射线的获得及基本性质 X射线的产生 ? 阴极加热 ? 电子发射 ? 电场加速 ? 撞击阳极靶 ? X射线 X 射线管 X射线产生的条件 足够量的高速运动的电子 有一个能经受高速电子撞击而产生X射线的靶 真空空间，防止氧化，防止电子受空气的阻挡 能量转换 1％的能量转换为X射线，99％为热能 冷却，短时间使用 X射线的强度 ? 发射的电子数量（管电流） ? 管电压的平方 ? 阳极材料的原子序数 X射线的性质 不可见 不带电 可穿透不透明的物质 能使底片感光 有反射、折射、干涉现象 使某些物质产生光电效应 生物效应 X射线的分布 ? 射线 ?射线的产生 放射性同位素的原子核衰变 半衰期 T=0.693/ ? （年） ? － 衰变常数 例：Co60，? = 0.131/年 T = 5.3 年 ?射线的性质与特点 与X射线相似 波长比X射线短 穿透力：Co60 - 铜 250mm；铝 350mm；钢 300mm ? 射线应用特点 不用水电，适应野外作业 设备轻巧，方便 半衰期短的?射线源需频繁更换 严格防护 灵敏度较低 高能X射线 定义：能量100万电子伏特的X射线 产生：电子回旋加速器等 性质：焦点小 特点 穿透力大（能量大，吸收） 50~60%变成热能，转换效率高 散热问题小 射线照相用设备 X射线探伤机组成 X射线检测设备 ?射线探伤机 胶片 纪录载体 暗盒 防止曝光 增感屏 增感系数（曝光量的比值）：K=无/有 荧光增感屏：产生荧光，增感系数大， 金属增感屏：二次电子和金属标识射线；增感系数小，晶粒细小 射线探伤原理及方法 原理 衰减规律 光化作用 内部信息获取 强度不同的射线场 探测并记录这个场信息 衰减定律 Jd=J0e -?d （单色平行射线） d:物质厚度； ?：衰减系数 ＝ K?3Z3 = ? + ? K：系数，决定于比重 ?：波长 Z：原子序数 ?：吸收系数 ?：散射系数 射线与物质的相互作用 X、?（电磁波）射入，穿透物质 受其影响，物质产生某些变化 射线受物质作用 一部分被吸收 改变了传播方向 射线与物质的相互作用 与整个原子进行 光电效应和瑞利散射 与原子中的一个电子 康普顿效应，电子对效应 与原子核进行 核场电子对效应和共振弹性散射 射线与物质的相互作用 电磁波的双重性 粒子性—波长短 波动性—波长长 X、 ?—主要为粒子性 射线与物质的相互作用 射线与物质的相互作用 吸收 散射 现象 射线通过物质以后，有部分射线改变了原来的方向，形成散射 原因 物质的原子中的电子，在射线电磁场的作用下，形成新的电磁波源，向四周辐射X射线 射线探伤技术及工艺 射线透照灵敏度 射线照相的影象质量因素：对比度、清晰度和颗粒度 对比度 :射线照相影象两个区域的黑度差 黑度: I/I0称为透过率, D = lg I0/I 清晰度（半影宽度） 几何不清晰度 胶片固有不清晰度 几何不清晰度 理想边界－垂直 实际边界－缓变 缓变区的大小U 几何不清晰度－射线源的焦点影响 ?射线的焦点 阳极靶上发出X射线的范围 Ug=dT/(f－T) 几何不清晰度影响 射线照相的灵敏度 显现缺陷的程度或发现最小缺陷的能力 绝对灵敏度－沿射线方向可发现最小缺陷的尺寸 相对灵敏度－沿射线方向所能发现的最小缺陷的尺寸与被检处的材料厚度的百分比 象质计 射线探伤工艺 透照规范包括：透照布置、透照基本参数、透照辅助措施和透照设备与器材 管电压 材料的吸收系数（穿透厚度） 照相灵敏度 选择原则 焦距 几何不清晰度的要求 适当的射线强度，均匀的透照范围 曝光量 透照时间 × 管电流 (mA·min) 曝光曲线 实验确定的有关透照规范数据的一组曲线 应用说明：根据板厚由曝光曲线确定管电压、曝光量 射线探伤的应用与缺陷识别 射线探伤的应用 准备：探伤范围（5％～100％）、位置、标记等 选规范：管电压、曝光量、焦距 辅助器材的使用 增感屏－荧光增感屏 补偿块－同种材质，铅粉、钡液 铅板－减少散射线的影响 缺陷的畸变：射线角度影响 焊缝的射线检测 应熟悉焊接工艺，了解可能出现的缺陷类型和部位 选择合理的透照方位，以得到最大的缺陷检出率 管子透照问题，单壁单投影，双壁单投影，双壁双投影 圆