VP-175-02 生化培养箱验证方案.docVIP

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VP-175-02 生化培养箱验证方案

生化培养箱 验证方案 目 录 1.概述……………………………………………………………………………….. 3 2.验证目的……………………………………………………………………………3 3. 职责………………………………………………………………………………..3 4.验证内容…………………………………………………………………………... 3 5. 验证报告……………………………………………………………………….. 8 6. 验证结果的评价………………………………………………………………… 9 7. 验证结果的结论………………………………………………………………… 9 8. 异常情况的处理 ………………………………………………………………...9 1.设备概述:   用于细菌、霉菌及酵母菌、控制菌的培养、保存。 温度控制采用集成电路附有LED数字显示,温度调整方便,并设有限温保护。箱内气流循环采用进口轴流风扇强迫对流,使箱内温度达到均匀。 2.验证目的 2.1通过对生化培养箱的空载热分布,确认培养箱内热分布差值符合要求。 2.2通过满载热分布,由箱体内部达到培养要求需要设定的温度及滞后时间,来确认此培养箱培养温度误差在规定的范围内对需气菌、厌气菌的培养无影响。 3.职责 3.1验证委员会 3.1.1负责验证方案的审批; 3.1.2负责验证的协调工作,以保证本验证方案规定项目的顺利实施; 3.1.3负责验证数据及结果的审核; 3.1.4负责验证报告的审批; 3.1.5负责发放验证证书; 3.1.6负责再验证周期的确认。 3.2质量管理部 3.2.1负责收集验证、试验记录,并对结果进行分析,起草验证报告,上报验证委员会; 3.2.2负责生化培养箱验证工作的具体实施。 3.3动力部: 3.3.1负责仪器、仪表的校正和共同完成生化培养箱验证。 3.4质量监督部 3.4.1负责指定操作人员; 3.4.2负责按SOP进行操作; 3.4.3负责验证前的各项准备工作。 4.验证内容: 4.1试验用仪器仪表:标准铂热电阻3支。 4.2温度探头分布图: 铂热电阻放置于第一组:C-Ⅲ-1,C-Ⅲ-3,C-Ⅲ-5 第二组:A-Ⅴ-5,E-Ⅴ-5,C-Ⅰ-1 第三组:A-Ⅰ-5,C-Ⅴ-1,E-Ⅰ-1 4.3测试程序及系统检查: 4.3.1选择3个铂热电阻,分三次编号后固定在6.2项下所示位置,注意热电偶焊接的尖端不能与灭菌腔的金属表面接触。 4.3.2预置培养温度36℃。 4.3.3启动培养箱,并检查设备运转、从室温升至36℃的时间、温度控制仪功能等。 4.4空载热分布试验: 4.4.1空载热分布试验是确定培养箱最高温度或最低温度是否超过培养温度范围,工作室内不同位置的温度,冷点温度较指示温度达到预计的滞后时间,同时验证设备自身温度传感、测定、控制系统处于正确的控制状态。 4.4.2记录从开始加热升温到36℃,60min ,停止加热,记录三个标准铂热电阻的温度值和培养箱显示温度值。 4.4.3 按照规定的位置,空载热分布最高或最低温度超过培养温度范围,为验证合格标准,若最高或最低温度超过培养温度范围,应进行调整。 4.5满载热分布与热穿透试验 4.5.1最大装载确定:培养皿48个,按与实际操作相同环境下进行。 4.5.2将温度探头放置于规定位置 4.5.3预先设定的培养温度调至36℃,待最低温度达到培养温度范围后,继续记录60min,五分钟记录一次三个标准铂热电阻的温度值和生化培养箱显示的温度值。 4.5.4满载热分布试验至少进行三次重复性试验,对试验获得的数据进行分析,确认满载状况下的设定温度和延时时间。 4.5.5 空载热分布最高或最低温度超过培养温度范围,为验证合格标准,若最高或最低温度超过培养温度范围,应进行调整。 生化培养箱测试记录 设定温度: 探头位置: 探头编号 时间 1 (℃) 2 (℃) 3 (℃) 平均温度(℃) 设备显示温度(℃) 备注 时 分 时 分 时 分 时 分 时 分 时 分 时 分 时 分 时 分 时 分 时 分 时 分 时 分 时 分 时 分 时 分

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