局部放电检测原理及一般试验技术.ppt

局部放电检测原理及一般试验技术 什么是局部放电? 局部放电是指部分地桥接导体间绝缘的一种气体放电，这种放电可能会，或者不会出现在导体的近旁。 指设备绝缘系统中部分被击穿的电气放电，这种放电可以发生在导体(电极)附近，也可发生在其它位置 。 局部放电产生的原因 局部放电对于高压电工产品往往是很难避免的，这是由于绝缘材料和绝缘结构在制造过程中常会含有比固体绝缘容易击穿的小气泡或油膜，在电场的作用下，会产生内部放电。绝缘材料和绝缘结构中电场分布不均匀，也会产生局部放电（如针尖电极、电极表面上的毛刺、或者是金属屑异物）。 局部放电的分类 1、内部放电 ---在介质内部或介质与电极之间的放电。这种放电的特性与介质的特性和气屑的形状、大小、位置以及气屑中气体的性质有关。 2、表面局部放电---在沿介质表面的电场强度达到击穿场强时所发生的局部放电。在电机绕组、电缆、套管等绝缘结构的端部，从导体到介质表面经常会出现这种局部的放电。 3、电晕放电---在气体中，高电压导体周围所产生的局部放电称为电晕。如高压传输线、高压变压器等高压电气设备，因高压接线端暴露在空气中，都有可能产生这种局部放电。 表征局部放电的参数 视在放电电荷 放电重复率 放电的能量 放电的平均电流 放电的均方率 放电功率 局部放电起始电压 局部放电熄灭电压 视在放电量q 是指在试品两端注入一定电荷量，使试品端电压的变化量和局部放电时端电压变化量相同。此时注入的电荷量即称为局部放电的视在放电量，以皮库(pC)表示。 实际上，视在放电量与试品实际点的放电量并不相等，后者不能直接测得。试品放电引起的电流脉冲在测量阻抗端子上所产生的电压波形可能不同于注入脉冲引起的波形，但通常可以认为这二个量在测量仪器上读到的响应值相等。 脉冲电流法(ERA) 高电压设备局部放电时在试验回路中引起电荷转移，产生高频电流脉冲,其流过检测阻抗产生电压脉冲，将此电压脉冲经过合适带宽的放大器放大后由仪器测量、显示出来。 试验回路 测量局部放电的基本回路有3种，图 (a)并联法测量回路、(b)串联法测量回路、(c)平衡法测量回路。 试验校准的基本原理 视在放电量校准的基本原理是：以幅值为U0的方波通过串接小电容C0注入试 品两端，此注入的电荷量为 ? 直接校准 将已知电荷量Q0注入试品两端称为直接校准，这种校准方式是由国家标准GB7354—87《局部放电测量》推荐的。 例：并联法试验回路的直接校准电路 U0——脉冲电压幅值，V； C0——电容，pF； Q0——电荷量，pC ?校准的注意事项 校准方波发生器的输出电压U0和串联电容C0的值要用一定精度的仪器定期测定，如U0一般可用经校核好的示波器进行测定；C0一般可用合适的低压电容电桥或数字式电容表测定。每次使用前应检查校准方波发生器电池是否充足电。 从C0到CX的引线应尽可能短直，C0与校准方波发生器之间的连线最好选用同轴电缆，以免造成校准方波的波形畸变。 当更换试品或改变试验回路任一参数时，必须重新校准。 干扰类型和途径 干扰将会降低局部放电试验的检测灵敏度，试验时，应使干扰水平抑制到最低水平。干扰类型通常有： ⒈电源干扰、 ⒉接地系统干扰、 ⒊电磁辐射干扰、 ⒋试验设备各元件的放电干扰 ⒌各类接触干扰。 这些干扰及其进入试验回路的途径见图 Tr—试验变压器；Cx—被试品；Ck—耦合电容器；Zm—测量阻抗； DD—检测仪；M—邻近试验回路的金属物件；UA—电源干扰； UB—接地干扰；UC—经试验回路杂散电容C耦合产生的干扰； UD—悬浮电位放电产生的干扰；UE—高压各端部电晕放电的干扰； IA—试验变压器的放电干扰；IB—经试验回路杂散电感M耦合产生的辐 射干扰；IC—耦合电容器放电的干扰 干扰及其进入试验回路的途径（一） 1、电源干扰。检测仪及试验变压器所用的电源是与低压配电网相连的，配电网内的各种高频信号均能直接产生干扰。因此，通常采用屏蔽式电源隔离变压器及低通滤波器抑制，效果甚好。 ?2、接地干扰。试验回路接地方式不当，例如两点及以上接地的接地网系统中，各种高频信号会经接地线耦合到试验回路产生干扰。这种干扰一般与试验电压高低无关。试验回路采用一点接地，可降低这种干扰。 干扰及其进入试验回路的途径（二） 3、电磁辐射干扰。邻近高压带电设备或高压输电线路，无线电发射器及其它诸如可控硅、电刷等试验回路以外的高频信号，均会以电磁感应、电磁辐射的形式经杂散电容或杂散电感耦合到试验回路，它的波形往往与试品内部放电不易区分，对现场测量影响较大。其特点是与试验电压无关。消除这种干扰的根本对策是将试品置于屏蔽良好的试验室。采用平