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JTAG使用说明 遵循JTAG的器件包含以下几个管脚 TCK 测试时钟输入，它和系统时钟不同 TDI测试数据输入，通过它数据移位进入器件 TDO测试数据输出，通过它数据从器件移出 TMS测试模式选择，在JTAG规范中TMS命令选择测试模式 TRST测试复位输入，它为TAP控制器提供异步初始化 器件的测试支持功能是通过TAP控制器来实现的。TAP是一个状态机，它控制控制所有相关操作，每种遵循JTAG的器件都有自己的TAP控制器，通过TCK和TMS可以使状态机内部的状态发生变化，从而支持诸如断点、单步、内部观察等调试工作。 本章针对ARM7TDMI介绍调试结构。ARM的调试体系采用协议转换器来使调试器通过JTAG与ARM核直接通信。前面JTAG标准中提到的扫描链功能是测试用，这里把它作为调试用：捕获数据总线上的信号并向内核或存储器插入新的信息。ARM7TDMI-S核内具有EmbeddedICE逻辑，EmbeddedICE逻辑提供对片内调试的支持。调试指令直接通过扫描链插入ARM内核并执行。根据插入调试指令的不同，内核可以处于观察、保存或改变状态。ARM的调试体系可以使程序指令执行速度处于调试速度或全速运行。在ARM中采用JTAG的特点是：通过JTAG接口可以观察ARM内核状态和系统状态（注意：系统状态包括片内外设，不同于内核状态）；不占用额外的目标系统资源