精密仪器设计第六章考点.docxVIP

第六章第一节光电系统组成和类型（一）光电系统的特点：1．精度高2．非接触测量3．测量范围大4．信息处理能力强（二）光电系统的类型1．主动系统与被动系统 2．模拟系统与数字系统 3．直接检测系统与相干检测系统第二节、光电系统特性（一）光电特性 光电系统的光电特性即该系统输入、输出特性又称为静特性，其输入量一般是光通量或光照度E，输出量一般是电压或电流。（二）光谱特性及光谱匹配 为了提高光能的利用效率，要求检测器件的光谱灵敏度分布和辐射源的辐射度分布及各传输环节的透过率分布相覆盖 。（三）光电灵敏度特性光谱响应率又称光电灵敏度，它是光电系统的光电检测器件的输出（电压V或电流I）与入射光通量之比，（四）频率响应特性即当入射光照是以一定频率变动的交换光信息时，光照频率的变化将会引起光电器件响应率的变化。一般地，响应率随光照频率升高而降低（五）光电系统的探测率D光电系统的探测率表征光电系统的探测能力，越大表征探测能力越强。光电系统的比探测率D*光电检测系统的探测率除了与和有关外还与光电检测器件光敏面面积A和光电检测系统的带宽有关 第三节、光电系统设计原则匹配原则1）光谱匹配2）功率匹配3）阻抗匹配匹配核心是如何正确选择光电检测器件干扰光最小原则干扰光最小原则就是指干扰光对光电系统影响最小，以使系统稳定性好，抗干扰能力强。光电系统中的干扰光主要是指杂散光、背景光和“回授光”。减小杂散光措施：光学滤波、光学调制和光外差检测。减小背景光措施：采用光遮断、光隔离、光控制和光补偿的方法。减小回授光措施：光偏离、光遮挡、光偏振片。共光路原则在光电系统中为了实现精密测量和减小共模干扰，经常采用差动测量系统，以实现被测量与标准量的比较 。第四节、光电测量系统中的光源及照明系统一. 常用的光源 1）太阳光，白炽灯2）气体放电光源 3）半导体发光器件4）激光光源二.照明系统设计要求：1）保证足够的光能。2）有足够的照明范围，照明均匀。3）照明光束应充满物镜的入瞳。4）应尽量减少杂光进入物镜，以保证像面的对比度。5）合理安排布局，避免光源高温的有害影响三、照明系统需要满足原则1）光孔转接原则。2）照明系统的拉赫不变量应大于或等于物镜的拉赫不变量四、照明系统种类1）直接照明2）临界照明光源所出的光通过聚光镜成像在物面上或其附近的照明方式称为临界照明。 优点：简单，孔径角大，被照明视场有最大亮度而无杂散光缺点：视场内可见到灯丝像，影响照明均匀，不满足光孔转接3）远心柯勒照明集光镜将光源成像到聚光镜的前焦面上，孔径光阑位于聚光镜的物方焦面上，组成像方远心光路，视场光阑被聚光镜成像到物面上 优点：灯丝不会成像到物面上，照明均匀4）同轴照明这种照明系统可以检测反射镜面上的缺陷。如果被测表面是镜面，则镜面的反射光线全部进入物镜成像，因此整个图像都是白色。当镜面上有腐蚀斑点或者污渍时，所产生的漫反射光线进入物镜的甚少，因此图像上将产生黑色的斑点。第五节、直接检测系统的设计直接检测系统的组成直接检测系统的应用用检测光透过率的方法可以测物质透明度、液体 纯度、反射率、大气质量监测、光的偏振状态；检测调制光的频率和波数变化可以测速、测角和 测距；利用光学成象和象分析器可以定位、尺寸检测、位置检测；利用多光谱的光谱分析可以测温等。（二）距离检测的光电系统1.三角法测距；2.相位法（连续波）测距；3.时间法测距 。三角法测距设计要点 1减小非线性误差。 2光源的稳定性的影响。 3被测对象特性的适应性。 4光学系统及光电接收器件的特性对测距精度影响（三）、几何中心与几何位置光电检测系统基本原理是：先将几何形体的轮廓被光学系统成像，其像的位置与几何形体相对光轴（基准）的位置有关，再用一个与光轴位置有确定关系的像分析器将像的空间位置分布转换成照度分布，获得与几何位置有关的光通量变化，即得到位置—光通量变换特性，根据光通量的变化就可检测出几何位置。几何中心和几何位置光电检测系统设计应注意以下几点：1.照明光源应稳定，且照度应均匀。2.光学系统像差要小，像的对比度好。3.用于对准的标志物或被检测的物的边缘应清晰、陡直、无毛刺。4.像分析器的位置相对测量基准要精确校准；。5.在用扫描调制法进行调制时要求调制中心稳定，调制幅度恒定。第六节相干变换与检测系统设计利用相干变换的方法来携带被测信息，可将信息加载于相干光波的振幅、频率和相位之中，因此相干检测比直接检测手段更丰富，测试精度和分辨力更高。广泛地应用于精密测长、测角、测距、测速、测力、测振、测应变及光谱分析等。