光电信息技术实验告.docVIP

光电信息技术实验 姓名：XXX 班级：XXX 学号：XXX 指导老师：XXXX  实验一 阿贝原则实验 实验目的 熟悉阿贝原则在光学测长仪中的应用。 基本原理 阿贝比较原则 万能工具显微镜结构及实物图所示。 万能工具显微镜的标准件轴线与被测件轴线不在一条直线上，而处于平行状况。产生的阿贝误差如下： 一阶误差，即阿贝误差 2．结论 1）只有当导轨存在不直度误差，且标准件与被测件轴线不重合才产生阿贝误差（一阶误差）。 2）阿贝误差按垂直面、水平面分别计算。 3）在违反阿贝原则时，测量长度为的工件所引起的阿贝误差是总阿贝误差的。 4）为了避免产生阿贝误差，在测量长度时，标准件轴线应安置在被测件轴线的延长线上（阿贝原则）。 5）满足阿贝原则的系统，结构庞大。 3.阿贝测长仪 阿贝测长仪中，标准件轴线与被测件轴线为串联形式，无阿贝误差，为二阶误差，计算形式如下： 实验内容 万能工具显微镜进行测长实验 1）仪器：万能工具显微镜，精度：1微米。 用1元的硬币，分别测它们的直径，用数字式计量光栅读数及传统的目视法读数法。每个对象测10次，求算数平均值和均方根值。 2）实验步骤：瞄准被测物体一端，在读数装置上读一数；瞄准被