《材料物理性能》期末复习资料.ppt

7. 磁性基本测量方法。 冲击法测磁性材料参数（磁化曲线和磁滞回线） O：标准环形试样； N：磁化线圈； n：测量线圈；G：冲击检流计； A：直流电流表；M：标准互感器； K1、K2：双掷开关；R1、R2：可变电阻 在N线圈中通以电流i，则在N中产生磁场： N：磁化线圈匝数 ：试样平均周长 试样被磁化，磁感应强度为B K1突然换向(在极短时间?秒内) 磁通量： S：试样的截面积 冲击法测磁原理图 7. 磁性基本测量方法。 r：测量回路中的总折合电阻 磁通量的变化，引起线圈n（匝数为n）中产生感生电动势： 在测量回路（由n、M、G、R3、R4组成）中产生瞬时电流： 由冲击检流计测出其电量Q： ?：冲击检流计的偏转角； C：冲击检流计常数 7. 磁性基本测量方法。 K2合上标准互感器M的线路，M主线圈上的电流i： 其副线圈两端产生的感应电动势为： M：互感器的互感系数 测量回路中的感生电流： 通过检流计的电量（相应偏转角为?0）： Cr：测量回路的冲击常数 在不同H条件下，测出B，可绘出磁化曲线。 测量磁滞回线的基本原理与此相同。 Cr的求法： 7. 磁性基本测量方法。 利用环形试样测定磁化曲线或磁滞回线的方法，只适用于测定软磁材料。因为线圈N产生的磁场较小，只有软磁材料才能在小磁场条件下磁化达到饱和 硬磁材料须用强磁场测定： 硬磁材料用强磁场测磁原理图 7. 磁性基本测量方法。 钢中残余奥氏体含量测定 讨论淬火钢中只存在马氏体和残余奥氏体?的简单情况 其饱和磁化强度： ，则 由于 7. 磁性基本测量方法。 因此，残余奥氏体的含量 由B=H+4?M B与冲击检流计的偏转角?成正比： 7. 磁性基本测量方法。 测定饱和磁化强度的方法： 检流计的偏转角?与试样的磁化强度MS成正比 7. 磁性基本测量方法。 热磁仪原理示意图 通磁后，试样磁化，其磁化强度为M，则试样将受到力矩?1的作用，使试样转动。 试样转动??角，则： V：试样体积； H：磁场强度； ?：试样与磁场夹角 弹性系统产生的反力矩： 平衡时： 则： 主要用于测定M的动态变化。 (CGS) 热磁仪 热磁仪，又称阿库洛夫仪，磁转矩仪。 原理：将磁学量转换成力学量进行测量。 7. 磁性基本测量方法。 等温分解动力学曲线测定 测量时首先将试样放在磁极之间的高温炉中加热至奥氏体化温度，通上强磁场。由于奥氏体是顺磁体，试样在磁场作用下不发生偏转。然后通过专门机构，很快将加热炉取出，换上等温炉使试样等温淬火，此时过冷奥氏体将分解，其分解产物珠光体、贝氏体、马氏体都是铁磁相。随着等温时间的延长，分解产物增多，试样磁化强度增加，试样的偏转角增大。连续记录试样的转角，换算为奥氏体转变量，绘出奥氏体等温分解曲线。 饱和磁化强度与过冷奥氏体的转变产物的数量成正比 7. 磁性基本测量方法。 矫顽力的测定（甩脱法） 将待测试样先磁化至饱和，然后转移到一个退磁螺管线圈内（所产生的磁场方向，正好使试样退磁）。若螺管线圈的电流选择合适，则其H正好等于试样的HC，试样的磁化强度为零（退磁）。此时将试样从测量线圈中拉出来，测量线圈中无磁通变化，冲击检流计不会偏转，故可以用螺管线圈的电流大小来衡量HC的大小。 8. 软磁、硬磁材料的基本参数与特性。 软磁材料：矫顽力很低的磁性材料，亦即当材料在磁场中易磁化，移出磁场后，获得的磁性便会全部或大部丧失 基本参数：软磁材料的温度稳定性用温度系数?表示，定义为由于温度的改变而引起的被测量的相对变化与温度变化之比 软磁材料的特性 磁导率的减落：软磁材料尤其是铁氧体软磁材料在受到电、磁、热和机械等冲击后，畴壁易于移动，表现出较高的磁导率，当冲击停止后一段时间内，离子或空位在自发磁化的影响下，将逐渐向低能态的稳定状态迁移，从而导致磁导率下降 磁老化：软磁材料的磁性能随时间增长而不断下降，其原因除减落之外，还可能由于材料结构变化而引起的不可逆变化，称为磁老化 截止频率：软磁材料畴壁共振及自然共振的影响，使软磁材料的 值下降为起始值的一半，且μ达到峰值时的频率，称为截止频率fr，它与材料的组成和显微结构有关 8. 软磁、硬磁材料的基本参数与特性。 硬磁材料：材料被外磁场磁化后，去掉外磁场仍然保持着较强的剩磁的磁性材料 基本参数：退磁曲线上每一点的B和H的乘积（BH），表征材料内部储存的能量大小 磁铁的最大磁能积 D点是指永磁材料去掉磁场后，由于退磁场的作用，剩磁B所处的位置（称为磁体工作点） Bd：表观剩磁 Br的极限值：?0MS BHC的极限值： ?0Mr= ?0MS 凸出系数（极限隆起度）： 回复磁导率?rec 光学部分 光学部分的重点为选择性吸收、散射、发光机理 1. 光与介质的相互作用 折射、折射率的影响