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1.SPC基本理念
計數值管制圖與計量值管制圖 计数值管制图 计量值管制图 管制图的选择(一) 管制圖的意義 管制圖的判讀 方式: (1)圖示法:以圖形直接來表示,如次數分配表、直方圖、管制圖表示。 (2)數值法:以製程準確度Ca、製程精密度Cp、製程能力指數Cpk表示。 量測製程之實績平均值與規格中心的差異性。 (X –μ) (實績平均值-規格中心值) Ca = ; (T/2) (規格公差/2) T=USL-LSL=規格上限-規格下限=規格公差 PS.單邊規格(設計規格)因沒有規格中心值,故不計算Ca 製造規格將單邊規格公差調整為雙邊規格,如此方可計算Ca 當Ca = 0 時,代表量測製程之實績平均值與規格中心相同;無偏移 當Ca = ±1 時,代表量測製程之實績平均值與規格上或下限相同;偏移100% 等級判定:Ca值愈小,品質愈佳。依Ca值大小可分為四級 等級 Ca值 A │Ca│≦12.5% B 12.5%<│Ca│≦25% C 25%<│Ca│≦50% D 50%<│Ca│ Ca等級評定后之處置原則 等級 處理原則 A級 繼續維持現狀 B級 盡能能改善為A級 C級 應即檢討并改善 D級采取緊急措施,全面檢討,必要時停止生產 製程準確度Ca 的缺點 當數據的實際差異性過大,但平均值卻接近規格標準時。 範例: 規格標準10,上限11,下限9 的情況下 第一組的量測數據為 10.3,9.7,10.5,10.1 ,9.4,其 Ca 值為 0 第二組的量測數據為 12,9,11,10,8,其 Ca 值亦為 0 但第二組的數據明顯比第一組差 製程精密度Cp(Capability of Precision) 量測製程之變異寬度與規格公差範圍的差異性,又稱製程潛力。 (USL –LSL) (規格上限-規格下限) Cp = ; ……雙邊規格 6 σ (6個標準差) (USL – u ) (規格上限-規格中心) Cpu = ; ……單邊規格 3 σ (3個標準差) ( u –LSL) (規格中心-規格下限) Cpl = ; ……單邊規格 3 σ (3個標準差) CP等級判定: 等級 CP值 A+ 1.67Cp A 1.33≦CP B 1.00≦CP≦1.33 C 0.67≦CP≦1.00 D CP≦0.67 製程精密度Cp 的缺點 當數據很集中但卻又偏移規格標準時,單看Cp值會產生製程極佳的錯覺。 範例: 規格中心 8、規格上限 8.5、規格下限 7.5 第一組的量測數據為 8.5、7 、8 、8 、8.5,其 平均值為 8,Cp 值為 1.83 第二組的量測數據為
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