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X Bar-R管制图简介
ETBEST Consulting Company X-Bar R管制圖簡介 本次教程目的: 1.請各單位相關人員清楚了解我們管制圖,可以自主發現問題,並能解決出現之問題,防止盲目輸入 2.配合TS2稽核,讓大家多了解X bar-R管制圖 本次教程內容: SPC:統計製程管制(Static Process Control) 製程能力指數(Ca ,Cp, Cpk) 什么是 Cpk? 平均值和全距 平均值的計算 管制圖的判讀 超出管制界限的點：出現一個或多個點超出任何一個管制界限是該點處於失控狀態的主要證據 Cpk的計算實例 某工序的規格要求為10±0.1mm, X=10.036,s=0.027;實際測出50個樣本值如下﹐計算出該工序的Cpk; Cpk的計算方法: Ca=(x-C)/(T/2)=(10.036-10)/0.1=0.36; Cp=(10+0.1-(10-0.1))/(6*0.027)=1.239; Cpk=Cpx(1-Ca)=1.239x(1-0.36)=0.793; 2007/7/23 1.X-Bar R管制圖的相關名詞介紹 2.X-Bar R管制圖的相關公式計算 3.判圖三原則 名詞介紹: 什么是Ca? Ca:制程准确度; (Capability of Accuracy) Ca 在衡量“實際平均值“與“規格中心值”之一致性; 对于单边规格，不存在规格中心，因此也就不存在Ca; Cp:制程精密度 (Capability of Precision) Cp衡量的是“規格公差寬度”與“製程變異寬度”之比例; 什么是Cp? Cpk的定义：制程能力指數； Cpk的意义：制程水准的量化反映; 用一个数值来表达制程的水准; R值的計算 管制界限另一種算法 UCL(X -bar)=CL+3σ LCL (X-bar)=CL-3σ UCL CL LCL 異常 異常 管制圖的判讀 鏈：有下列現象之一即表明製程已改變 連續7點位於平均值的一側 連續7點上升(後點等於或大於前點)或下降。 UCL CL LCL 光學部分之单边規格沒有Ca CPK=(1-Ca)*Cp σ=STDEV(範圍) 製程績效指標Ppk 下面進行習題練習
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