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- 2017-06-08 发布于河南
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实验2双端口存储器原理实验
三、接线
固定接线
RS_BUS#接+5V,禁止寄存器堆RF向DBUS送数。
IAR_BUS#接+5V,禁止中断地址寄存器IAR向DBUS送数。
ALU_BUS接GND,禁止运算器ALU向DBUS输出数据。
AR1_INC接GND,禁止地址寄存器进行AR1+1→AR1操作。
M3接+5V,使地址寄存器AR2从DBUS取得地址数据。
其他控制信号线
SW_BUS#接K0;
CEL接K1;
LRW接K2;
CER、LDIR接K3;
LDAR1接K4;
LDAR2接K5。
四、设置功能开关
先置开关DB 0,DZ 0,DP 1,使系统处于单拍状态(每按一次QD按钮,顺序产生T1、T2、T3、T4各一个脉冲)
先将IR/DBUS开关拨到DBUS位置;
先将AR1/AR2开关拨到AR1位置;
五.实验操作演示
使用左端口,向某一存储单元写入数据。(以向地址06H单元写入数据80H为例)
将地址06H写入AR1
置SW_BUS#(K0) 0;CEL#(K1) 1。
按下实验台上电源开关,接通电源。
按下复位按钮CLR#(使实验系统处于初始状态)。
置开关SW7~SW0,此数据加至DBUS(数据指示灯显)。
置LDAR1 1(k4);LDAR2(K5) 0。按QD按钮(产生T4),则将DBUS的数据打入AR1,加至左端口的地址线上。此时左端口地址指示灯显
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