基于MCU的锁相环定时间测量系统设计.docVIP

基于MCU的锁相环锁定时间测量系统设计 摘要：为测量锁相环锁定时间，通过比较各锁相环芯片的接口特点，设计通用的测量系统。该系统包括上位机、下位机软件以及基于at89c51的控制电路，上位机和下位机使用串口通信。通用性和实时性是系统最大特点，在软件和硬件的设计上保证系统能兼容大多数常用锁相环芯片；并能根据用户输入的控制参数实时控制锁相环且测量其锁定时间。通过实际应用证明，该系统能准确测量锁定时间，有效减少锁相环设计与调试过程中的工作量与复杂度。 关键词：at89c51； 锁相环； 锁定时间； 串口 锁相环技术是一种频率合成技术，在各类通信和控制系统有着重要应用。其中锁定时间是环路的重要参数。商业的锁相环设计软件仅能在仿真层面上计算出锁定时间的理论值，而本文所设计的锁定时间测量系统包括软件和硬件，可动态控制锁相环并实时测量其锁定时间。 典型的锁相环系统包括分频器、鉴相器、滤波器、压控振荡器。其中鉴相器和分频器往往都集成在一个锁相环芯片中，可使用单片机对其进行编程控制。锁相环芯片控制数据的传输大都采用串行方式，仅在一些细节上有所不同，这给设计通用的锁相环锁定时间测量系统带来可能。 1系统原理 测量系统结构如图1所示。上位机通过串口和单片机通信。上位机负责读取用户输入的控制参数并传递给单片机，单片机负责将控制参数写入锁相环并测量锁定时间，之后交由上位机显示。 通常锁相环芯片与单片机的编