原子吸收1讲解.ppt

双光束光学系统 4.2.1.3 光学系统 单色器 由入射狭缝、反射镜、准直镜、平面衍射光栅、聚焦镜和出射狭缝组成。 平面衍射光栅是主要色散部件，其性能指标为：分辨率、倒线色散率、聚光本领、闪耀特性以及杂散光水平等。 目前，还有采用中阶梯光栅与石英棱镜组成的二维色散系统，全封闭的外光路与二维色散系统确保了较少杂散光水平和较高分辨率。 4.2.1.3 光学系统 检测系统 光电倍增管(PMT)是原子吸收分光光度计的主要检测器，要求在200~900 nm波长范围内具有较高灵敏度和较小暗电流。 数据处理与控制系统 计算机光谱工作站对所采集的数字信号进行数据处理与显示，并对原子吸收分光光度计各种仪器参数进行自动控制。 4.2.1.4 检测系统和数据处理与控制系统 光学系统的波长显示值误差 光学系统分辨率 基线的稳定性 吸收灵敏度(S1%) 精密度 检出限 4.2.2 原子吸收分光光度计性能指标 4.3 干扰及其消除 物理干扰：指样品溶液物理性质变化而引起吸收信号强度变化，物理干扰属非选择性干扰。 物理干扰一般都是负干扰。 消除方法： 配制与待测样品溶液基体相一致的标准溶液。 采用标准加入法。 被测样品溶液中元素的浓度较高时，采用稀释方法来减少或消除物理干扰。 4.3.1 物理干扰及其消除方法 化学干扰：待测元素在原子化过程中，与基体组分原子或分子之间产生化学作用而引起的干扰。 消除方法： 改变火焰类型、改变火焰特性、加入释放剂、加入保护剂、加入缓冲剂、采用标准加入法 。 4.3.2 化学干扰及其消除方法 背景干扰也是光谱干扰，主要指分子吸与光散射造成光谱背景。分子吸收是指在原子化过程中生成的分子对辐射吸收，分子吸收是带光谱。光散射是指原子化过程中产生的微小的固体颗粒使光产生散射，造成透过光减小，吸收值增加。 背景干扰，一般使吸收值增加，产生正误差。 4.3.5 背景吸收与校正 氘灯背景校正技术 4.3.5 背景吸收与校正 Zeeman效应背景校正技术： 该法是在磁场作用下，简并的谱线发生分裂的现象。 Zeeman方法： 光源调制——磁场加在光源上。 吸收线调制——磁场加在原子化器上—使用广泛。 磁场调制方式： 交变磁场调制方式与恒定磁场调制方式。 4.3.5 背景吸收与校正 交变磁场调制方式： 磁场变化 零磁 激磁 零磁时：原子+背景吸收； 激磁时：仅背景吸收，他们之差为原子吸收。 4.3.5 背景吸收与校正 恒定磁场调制方式： 光源发射线通过起偏器后变为偏振光，某时刻平行于磁场方向的偏振光通过时，吸收线组分和背景产生吸收，得到原子吸收和背景吸收总吸光度；另一时刻垂直于磁场的偏振光通过原子能器时只有背景吸收，没有原子吸收，两者之差即为原子吸收。 4.3.5 背景吸收与校正 4.4.1. 仪器操作条件的选择 HCL电流选择： HCL电流小，HCL所发射谱线半宽度窄，自吸效应小，灵敏度增高； 但HCL电流太小，HCL放电不稳定，影响分析灵敏度和精密度。 吸收谱线选择： 首选最灵敏的共振吸收线。 共振吸收线存在光谱干扰或分析较高含量的元素时，可选用其他分析线。 4.4 原子吸收光谱法分析 光谱通带的选择 光学系统指是狭缝宽度(S/mm)的选择。 光谱通带主要取决于单色器的倒线色散率(D，nm.mm-1)。 光谱通带的计算式为：W=D×S。光谱通带的宽窄直接影响分析的检出限、灵敏度和线性范围。 对于碱金属、碱土金属，可用较宽的光谱通带，而对于如铁族、稀有元素和连续背景较强的情况下，要用较小的光谱通带。 4.4.1 仪器操作条件的选择 火焰的类型与特性选择 燃烧器高度的选择 火焰原子化器的吸喷速率 也称为待测溶液的提升量。提升量过大，对火焰产生冷却效应，影响原子化效率；而提升量过小，影响分析方法的灵敏度和检出限。 4.4.2 火焰原子化法最佳条件选择 石墨管类型的选择： 普通石墨管、热解涂层石墨管、L,vov平台石墨管 升温程序选择： 根据分析元素的种类、进样量的大小和基体效应的影响选择适宜的升温程序，是石墨炉原子化法分析的检出限、灵敏度、精密度和准确度的重要保证。 基体改进剂选择 进样量的选择： 与升温程序密切相关。一般进样量控制在5~100μL。 4.4.3 石墨炉原子化法最佳条件选择 标准曲线法 最常用的分析方法。标准曲线法最重要的是绘制一条标准曲线。 配制一组含有不同浓度被测元素的标准的标准溶液,在与试样测定完全相同的条件下，依浓度由低到高的顺序测定吸光度。绘制吸光度A对浓度c的校准曲线。 测定试样的吸光度值，在标准曲线上用内插法求出被测元素的含量。  4.4.4 原子吸收光谱定量分析方法 标准加入曲线法