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SPC统计过程控制 课程内容 过程控制的需要 过程控制的需要 基础统计知识 基础统计知识 变差的特殊原因可能与下列因素有关： 未经培训的新的操作者 过程参数的设定误差 数据输入误差 电源中断（影响计算机系统、机械稳定性） 未标定的量具 磨损的机械零件 一批污染了的原材料 过程能力分析 分析相对于产品要求或规范的过程变差。 变差管理 特殊原因 可由做日常工作的现场人员处理。 为防止特殊原因重复出现的方法是特殊的。 不寻找根本的系统变化。 一般的是短期解决。 普通原因 应由具有充足的管理/技术知识的人来处理，可以通过跨部门的小组来进行。 为改善过程能力而对业务过程和操作进行的根本的系统改变。 是中长期的解决。 W. E. Deming 提出80%的过程变差缘于普通原因，20%缘于特殊原因。 过程能力分析 分析相对于产品要求或规范的过程变差。 1. 识别重要的过程变量并收集数据 2. 绘制控制图，并确定控制限 3. 评估稳定性 4. 验证过程的正态分布特性 5. 估计总体标准差 或 6. 计算和估计 Cpk / Cp Ppk/Pp使用 7. 若过程能力达不到要求则提高过程能力 8. 分析修改的过程 9. 通过SPC连续监视. Cp公式: Cpk公式: min , 双边 单边规范 未定义 若适当使用Cpu 或Cpl。 过程能力分析 过程能力分析程序 Statistical process control Date:12/2003 过程控制的需要 基础统计知识 控制图 过程能力分析 考试 检测 容忍浪费 预防 避免浪费 过程 结果 原料 SPC是针对过程的重要控制参数所做的。例如能够对过程产生重要影响的设备的电流，气压等等 人 设备 方法 环境 测量 好 坏 群体和样本 群体 N 5000 X1, X2, X3, …, Xn 统计的基本目的是从一个群体中抽取样品， 并且： 决定样品的特征从而推断群体。 预知产品将来的特征。 n 50 数据的分布：遵循正态分布 我们不能预测下一个点的位置，但对于稳定的过程，我们可以知道它将落在预定的模型内。 上公差 下公差 基础统计知识 均值（Mean;X ；标准偏差 s ;极差 R X 变形点 1s 3s X X1+X2+ X3, …+Xn n s R d2 R X最大值 X最小值 均值代表了频数分布的中心。 标准偏差代表了分布的宽度。 2.326 2.059 1.693 1.128 d2 5 4 3 2 n 能力指数 Cp;Cpk 用数字描述过程能力 Cp 公差 / 制造变差 上偏差－下偏差 /过程偏差 USL – LSL / +/- 3 s USL – LSL / 6 s 过程潜在能力 Cp ： 工 差 范 围 和 过程偏差 之 间 的 比 值. +/- 3 s USL LSL 基础统计知识 能力指数 Cp;Cpk 过程潜在能力 Cp ： 范例： +/- 3 s X 10 s 1 10 11 12 13 14 6 7 8 9 Cp 公差 / 制造变差 上偏差－下偏差 /过程偏差 USL – LSL / +/- 3 s USL – LSL / 6 s 14-6 / 6*1 8/6 1.33 基础统计知识 基础统计知识 LSL USL 1 2 3 哪一个过程的潜在能力更好？　　　 能力指数 Cp;Cpk 能力指数 Cp;Cpk 过程能力 Cpk ： 过程均值至最近规格 上偏差或下偏差 的距离与二分之一的过程偏差之 间 的 比 值. Cpk 取最小值[ 上偏差－均值 /二分之一的　 过程偏差; 均值－下偏差 /二分之一的过 程偏差;] min [ USL – X /3 s, X – LSL /3 s] 基础统计知识 能力指数 Cp;Cpk 过程潜在能力 Cpk ： 范例1： +/- 3 s X 10 s 1 10 11 12 13 14 6 7 8 9 Cpk min [ 14-10 /3, 10-6 /3] min [1.33 , 1.33] 1.33 基础统计知识 能力指数 Cp;Cpk 过程潜在能力 Cpk ： 基础统计知识 范例2： mean Nominal 10 11 12 13 14 6 7 8 9 +/- 3 s 1 2 Cp 1.33 Cpk 能力指数 Cp;Cpk 过程潜在能力 Cpk ： 基础统计知识 范例2： mean Nominal 10 11 12 13 14 6 7 8 9 +/- 3 s 1 2 Cp 1.33 Cpk 14-11 /3 1 基础统计知识 常 用 的 统 计 工 具 排 列 图 因 果 图 波 动 图 正 态