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LED漏电失效探讨及解决方案.doc
LED漏电失效探讨及解决方案 摘要:随着LED应用越来越广泛,特别高端领域的应用如汽车仪表、家电、背光的应用,对LED的品质提出了更高的要求,但事实上各种各样的LED失效,给LED生产商和应用商造成很大的困扰。LED理论寿命是很长的,早期的失效一般是由于设计、材料、结构、工艺和使用等环节上存在的一些缺陷所引起的。该文针对LED失效中的漏电问题进行探讨,并给出了一些可行分析方法及解决方案,对同行具有一定的借鉴和参考意义。 关键词: 漏电流;失效;沾污;静电;钝化 中图分类号:TP393 文献标识码:A 文章编号:1009-3044(2014)20-4867-03 Discussion and Solution of LED Leakage Failure LI Fang, XIA Qi (Zhejiang Guyue Longshan Dsy Technology Ltd, Shaoxing 312000,China) Abstract: With more and more applications of LED, especially the high-end application fields such as automobile instrument, electrical appliances, backlight, put forward higher requirements on the quality of LED, but in fact a variety of LED failure, causing great distress to LED manufacturers and application developers. LED theory of life is very long, early failure is usually due to some defects of design, material, structure, process and use link caused by. The article discusses the problem of leakage failure of LED, and gives some feasible analysis and solutions, it has certain reference significance to peer. Key words: leakage current; failure; contamination; electrostatic; passivation LED漏电流, 即PN结在截止时流过发光二极管的很微小的电流。漏电流一般用IR表示, 单位用uA表示,一般正常LED的 IR读值范围?以VR 5V条件下逆向电流值 5uA?要求严格的高档LED产品以VR 10V条件下逆向电流值设定为 1uA,我司采用标准为第二种。 LED漏电的问题,LED技术员都遇到过,也一直困扰着封装工程师。LED漏电可以在LED封装完成后检测过程发现,可以在LED回流炉后检测过程发现,可以老化后被发现,有些使用一段时间后被发现。LED漏电失效是LED失效中最常见的一种,预防LED漏电失效,是提高LED可靠性积极主动的方法之一。 1 LED漏电流的失效现象 1.1 漏电流失效现象 一般情况下, LED反向漏电流IR值异常时,在几十微安甚至几百微安时,LED仍可以点亮发光,有些表现为亮度下降或闪烁。但如果芯片PN结已经损伤,随着LED使用时间变长,IR漏电流值将逐渐变大,当IR到达毫安级时LED将变暗或不亮,PN结已被击穿,也就是常说的短路。通常,PN结不良或受损产生漏电流通常是不可恢复的。 1.2 漏电流的伏安特性 LED的漏电,观察其伏安特性,通常有多种表现,如:正、反向漏电的伏安特性不同;反向击穿电压蠕变;正向伏安曲线里蠕变;严重的会表现出正、反向都是穿通的状况等。还有些LED漏电还表现出不稳定性,某些状况下,漏电状况还会暂时恢复正常,即暂时不漏电。 2 LED漏电流分析 2.1 漏电流分析方法 LED失效分析遵循先进行非破坏性、可逆、可重复的试验,再做半破坏性、不可重复的试验。因为LED漏电的原因和现象很多,根据透明封装和树脂实心封装的不同,一般先进行漏电测定,确认漏电存在后,用半腐蚀解剖法(强酸强碱腐蚀法,我司采用DY007腐蚀)检查芯片外观是否存在明显不良,如银胶过高、芯片开裂、打线偏等不良。若未发现,可采用变电流观察法、金相分析法、电子镜观察作进一步分析。 2.2 漏电流分析仪器 LED漏电流分析可以借助一些仪器来完成,一般一台晶体管特性图示仪(图1) ,可以方便的测量LED的正、反向伏安特性曲线,有经验的L
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