实验一TTL各种门电路功能测试实验.docVIP

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  • 2017-06-07 发布于重庆
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实验一TTL各种门电路功能测试实验

实验一 TTL各种门电路功能测试实验 一、实验目的: 1、熟悉TTL各种门电路的逻辑功能及测试方法。 2、熟悉万用表的使用方法。 二、实验设备及器件 1、实验设备 SAC-DS4数字逻辑实验箱 1个 数字万用表 1块 2、器件 74LS20双四输入与非门 1片 74LS02四二输入或非门 1片 74LS51双2-3输入与或非六 1片 74LS86四二输入异或门 1片 74LS00四二输入与非门 2片 三、实验内容与步骤 1、与非门逻辑功能测试 用74LS20双四输入与非门进行实验,其引脚图见附录 按图1-1接线测试 (2)按表1-1要求用开关改变输入端A、B、C、D的状态,借助指示灯和万用表,把测试结果填入表1-1中 表1-1 输 入 输出电压(V) 输出逻辑状态 A B C D 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 1 0 1 1 1 1 1 1 1 2、或非门逻辑功能测试 用74LS02二输入四或非门进行实验,其引脚图见附录 按图1-2接线测试 (2)按表1-2的要求用开关改变输入量A、B的状态,借助指示灯和万用表观测各相应输出端F的状态,并将测试结果填入表1-2中 表1-2 输 入 输出电压(V) 输出逻辑状态 A B 0 0 0 1 1 0 1 1 3、或非门逻辑功能测试 用74LS51双23输入与或

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