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数控机床的振荡现象分析与消除 　　摘要：本文的研究重点是数控机床的振荡现象如何清除。本文首先阐述了产生振荡的原因及消除振动的基本方法。其次介绍了对于各种不同的数控机床需要采用不同的诊断方法。进而阐述了清除数控机床的振荡现象已成为影响数控设备正常使用和保证模具质量的重要因素。并通过具体案例阐明了消除数控系统振荡故障的方法。有效的消除振荡问题，提高生产效率。 　　关键词：数控机床；振荡；故障；消除。 　　引言 　　数控机床的振荡现象（局部抖动现象），已成为数控全闭环控制系统较常见并且难于处理的问题。在我公司的大型精密加工中心设备上体现尤为明显，机床出现振荡现象的频次相对不是很高，但是问题点在于难于把握及诊断，该问题已成为影响数控设备正常使用和保证模具表面质量的重要因素之一。我们经过多年的经验积累逐渐形成一套较完整的判断思路和修理办法。 　　1产生振荡的原因分析 　　这里指的振荡主要针对非新安装的设备，即安装调试完成后投入使用的设备。 　　产生振荡的原因有很多，大体分为机械和电气两个方面。机械方面：由于常年使用积累而存在的传动间隙、弹性变形、摩擦阻力等诸多因素，或者因其它情况（撞击、过载）而产生的传动链变形，部件损坏或松动，传动链的润滑状态不良、外加负载过大等因素所致等等。电器方面：伺服系统的有关参数的影响及设置，驱动电机、编码器及联轴节、位置检测装置、电气线路及其屏蔽等出现的异常情况。 　　2消除振动的基本方法 　　有些数控伺服系统采用的是半闭环装置，而全闭环伺服系统必须是在期局部半闭环系统不发生振动的前提下进行参数调整，所以两者大同小异，本文为避免重复，暂且只讨论全闭环的情况。 　　要本着先外围后内部、先电气后机械、先简单后复杂、先静后动、先公用后专用、先查软件后查硬件的原则检查故障，对于数控设备出现较复杂的故障，特别是涉及到控制系统时，应用这些原则可简化故障的诊断过程，避免走弯路。有时这些原则应该结合使用，这样才能使故障尽快排除 　　2.1降低位置环增益 　　在伺服系统中有参考的标准值，例如：FIDIA C0-2系统为2000，FIDIA FI AXVKVD位置环增益1500；FANUCO-C系列为3000，西门子3系统为 1666，出现振荡可适当降低增益，但不能降太多，因为要保证系统的稳态误差。位置环增益系数Kv值的正确设定与调节。通常Kv值是作为机床数据设置的，数控系统中对各个坐标轴分别指定了Kv值的设置地址和数值单位。在速度环最佳化调节后Kv值的设定则成为反映机床性能好坏、影响最终精度的重要因素。Kv值是机床运动坐标自身性能优劣的直接表现而并非可以任意放大。关于Kv值的设置要注意两个问题，首先要满足下列公式： 　　Kv=v/Δ 　　式中v――坐标运行速度，m/min 　　Δ――跟踪误差，mm 　　注意，不同的数控系统采用的单位可能不同，设置时要注意数控系统规定的单位。例如，坐标运行速度v的单位是m/min，则Kv值单位为m/(mm?min)，若坐标运行速度v的单位为mm/s，则Kv的单位应为mm/(mm?s)。 　　其次：要满足各联动坐标轴的Kv值必须相同，以保证合成运动时的精度（简单例子：保证铣圆加工时的圆度）。通常是以Kv值最低的坐标轴为准。 　　案例：意大利兰苞蒂PV12加工中心，故障描述：丝母的滚珠磨损造成双向低速抖动，因丝母钢球大小需要配合制作精度较高，并且采购周期较长。所以采用短期应急办法：调整参数（FIDIA FI AXVKVD位置环增益由1200调整至1000、三轴同时调整）后应急加工正常。避免了因采购周期过长而造成的长期停机。 　　2.2 位置检测环节检查 　　检查测量光栅尺读数头、及其与尺座的相对安装间隙，通常为尺座固定、读数头移动的形式，读数头的固定如果有极小的间隙，则会产生较大的抖动包括静止的时候。 　　检查读数头的电缆状态，包括接插部分、屏蔽状态（屏蔽点是否可靠接地）、若有EXE放大器则检查接口状态（必要时可以采取互换法） 　　2.3借助数控机床自带的诊断软件辅助分析 　　我公司数控机床的主要系统为FANUC（15、16、18、21），FIDIA（C0、C10、C20），SIEMENS840.它们都有各自的自诊断软件，能够分析出运动过程中的关键要素，例如：速度、位置精度，加速度，跟随误差，插补精度。 　　2.4参数调整开环设置（屏蔽光栅尺） 　　借助机床参数设置加以分析、排除位置检测环节（光栅、磁栅、感应同步器、独立编码器）的故障因素。 　　例如：尺子表面有灰尘、油污等赃物，读数头与尺子的距离有微小的变化，反馈电缆屏蔽不良造成的干扰或是电缆接触不良，独立编码器本身问题或是联轴节等问题，感应同步器的滑尺与定尺之间间距，及其模数转换装置问题