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EAST等离子体非局域电子热输运研究
ASIPP EAST等离子体非局域电子热输运研究 报告人:韩翔 导师:高翔、凌必利 2011年12月6日 报告内容 1.开展此项研究的动机和意义 2. 跳频反射仪测量电子密度涨落原理 3.国际各装置用于涨落测量的微波反射仪 4. 拟建立的EAST跳频反射仪方案设计 5. 研究计划及时间安排 报告内容 1.开展此项研究的动机和意义 2. 跳频反射仪测量电子密度涨落原理 3.国际各装置用于涨落测量的微波反射仪 4. 拟建立的EAST跳频反射仪方案设计 5. 研究计划及时间安排 研究动机和意义 非局域热输运—边界局域冷脉冲扰动引起芯部Te上升的反常输运;由湍流的非线性激发所形成的湍流长程相互作用 电子密度涨落谱可获得等离子体湍流输运的相关信息 非局域热输运(TEXT) Gentle K W et al 1995 Phys. Rev. Lett. 74 3620 Gentle K W et al 1997 Phys. Plasmas 4 3599 1995年TEXT首次发现非局域电子热输运现象: 边界碳杂质注入—Te在边界下降芯部上升 存在时间延迟(小于1ms) 边界密度涨落幅度增加,芯部无变化 非局域热输运(RTPTore Supra) RTP和Tore Supra利用弹丸注入发现了非局域热输运现象 脉冲沉积位置: P Mantica et al Phys. Rev. Lett 82 (1999) 2048 X L Zou et al Plasma Phys. Control. Fusion 42 (2000) 1067 芯部Te及电子能量增长1~2倍 非局域热输运与涨落水平的关系 非局域输运存在密度阈值 芯部湍流被抑制(ne≈0.85) 低频模被触发:f=0-3kHz,低m Shi ZhongBin 1st ATPFG International Conference National Institute for Fusion Science (Japan) 很多实验中非局域输运发生时,都观测到湍流被抑制。但其物理机制尚未研究清晰 湍流水平降低 低频模被触发 输运被减弱 约束性能改善 非局域热输运 非局域热输运的特征 边界杂质注入 等离子体电流快速变化(边界在几个毫秒内迅速加热,比电流渗透及热 输运时间更快) SMBI 弹丸注入 ECRH离轴加热 触发手段 1)边界扰动的位置:0.65ρ0.8 2)温度变化的时间延迟小于1ms 3)随ne上升,非局域现象减弱; 当 时,非局域消失 4)芯部Te及电子能量增长1~2倍 5)电子储能上升40% 6)Te上升的位置依赖于电流或安全因子q 特点 Ding XuanTong 1st ATPFG International Conference National Institute for Fusion Science (Japan) 非局域输运的物理机制仍不明确,需要更深入的实验研究。 湍流的径向相关长度 涨落沿径向的传播特性 芯部湍流谱的研究 跳频微波反射仪 报告内容 1.开展此项研究的动机和意义 2. 跳频反射仪测量电子密度涨落原理 3.国际各装置用于涨落测量的微波反射仪 4. 拟建立的EAST跳频反射仪方案设计 5. 研究计划及时间安排 跳频反射仪测量电子密度涨落原理 微波反射仪基于雷达原理,通过跳频法测量入射波与反射波之间的相位差的涨落,分析得到等离子体电子密度分布以及涨落 高灵敏性,高空间分辨率,测量范围灵活,且对等离子体无影响 报告内容 1. 跳频反射仪测量电子密度涨落原理 2. 开展此项研究的动机和意义 3.国际各装置用于涨落测量的微波反射仪 4. 拟建立的EAST跳频反射仪方案设计 5. 研究计划及时间安排 Tore Supra LHD 跳频方案 利用开关选择频踪或VCO分别用于测量电子密度涨落和分布 频综:2-20GHz,锁频时间0.5ms;步长8.2ms,15步 R. Sabot et al, Nucl. Fusion 46 (2006) S685-S692 双通道跳频系统合成,两个SSB调制,同时测量 频踪:12.5-18GHz 单步驻留10ms 采样频率1MHz T. Tokuzawa et al, Rev. Sci. Instrument 81, 10D906 (2010) 固定频率测量 DIII-D 采用正交检波技术;高采样率10-25MHz G. Wang et al, Nucl. Fusion 46 (2006) S708-S713 Seo S. 2005 Rev. Sci. Instrum
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