数电实验可研报告.doc

班级： 姓名: 学号： 实验报告（一）TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 测试TTL集成与非门74LS20的逻辑功能，测试结果记录如下表： 输 入 输出 An Bn Cn Dn Yn 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 2. 74LS20主要参数的测试 ICCL （mA） ICCH （mA） Iil (mA) IOL （mA） NO= 3. 电压传输特性测试 Vi(V) 0 0.4 0.7 0.9 1.0 1.1 1.2 1.3 1.4 2.0 3.0 4.0 … VO(V) 画出实测的电压传输特性曲线，并从中读出各有关参数值。 实验报告（二）CMOS电路 1．用所给的集成电路（CD4007）实现F=,将实验结果填入真值表中，并测出高、低电平（真值表自拟，测试步骤自拟）。 2. 用所给的集成电路实现F=（真值表自拟，测试步骤自拟）。 3. 用所给的集成电路，构成图2-2反相器。 （a）测最大灌电流IOL(VOL=0.1V,接通图2-2中的虚线框①)。 （b）测最大拉电流IOH(VOH=4.9V,断开虚线框①，接通虚线框②。 4. 构成如图2-3所示的反相