嵌入式实验报告ARM的AD接口实验.docVIP

贵州大学实验报告 学院： 专业： 班级： 姓名 学号 实验组 实验时间 05.03 指导教师 余佩嘉 成绩 实验项目名称 ARM的A/D接口实验 实验目的 1．熟悉ARM本身自带的八路十位A/D控制器及相应寄存器。 2．编程实现ARM系统的A/D功能。 3．掌握带有A/D的CPU编程实现A/D功能的主要方法。 实验原理 1．A/D转换器 A/D转换器是模拟信号源和CPU之间联系的接口，它的任务是将连续变化的模拟信号转 换为数字信号，以便计算机和数字系统进行处理、存储、控制和显示。在工业控制和数据采集及许多其他领域中，A/D转换是不可缺少的。 A/D转换器有以下类型：逐位比较型、积分型、计数型、并行比较型、电压－频率型， 主要应根据使用场合的具体要求，按照转换速度、精度、价格、功能以及接口条件等因素来决定选择何种类型。常用的有以下两种： 1）双积分型的A/D转换器 双积分式也称二重积分式，其实质是测量和比较两个积分的时间，一个是对模拟输入电 压积分的时间T0，此时间往往是固定的；另一个是以充电后的电压为初值，对参考电源Vref反向积分，积分电容被放电至零所需的时间T1。模拟输入电压Vi与参考电压VRef之比，等于上述两个时间之比。由于VRef 、T0固定，而放电时间T1可以测出，因而可计算出模拟输入电压的大小(VRef与Vi符号相反)。 由于T0、VRef为已知的固定常数，因此反向积分时间T1与输入模拟电压Vi在T0时间内的平均值成正比。输入电压Vi愈高，VA愈大，T1就愈长。在T1开始时刻，控制逻辑同时打开计数器的控制门开始计数，直到积分器恢复到零电平时，计数停止。则计数器所计出的数字即正比于输入电压Vi在T0时间内的平均值，于是完成了一次A/D转换。 由于双积分型A/D转换是测量输入电压Vi在T。时间内的平均值，所以对常态干扰(串 模干扰)有很强的抑制作用，尤其对正负波形对称的干扰信号，抑制效果更好。 双积分型的A/D转换器电路简单，抗干扰能力强，精度高，这是突出的优点。但转换速 度比较慢，常用的A/D转换芯片的转换时间为毫秒级。例如12位的积分型A/D芯片 ADCETl2BC，其转换时间为lms。因此适用于模拟信号变化缓慢，采样速率要求较低，而对精度要求较高，或现场干扰较严重的场合。例如在数字电压表中常被采用。 2）逐次逼近型的A/D转换器 逐次逼近型(也称逐位比较式)的A/D转换器，应用比积分型更为广泛，其原理框图如图 3-10所示，主要由逐次逼近寄存器SAR、D/A转换器、比较器以及时序和控制逻辑等部分组成。它的实质是逐次把设定的SAR寄存器中的数字量经D/A转换后得到电压Vc与待转换模拟电压V。进行比较。比较时，先从SAR的最高位开始，逐次确定各位的数码应是“1”还是“0”，其工作过程如下： 转换前，先将SAR寄存器各位清零。转换开始时，控制逻辑电路先设定SAR寄存器的最 高位为“1”，其余位为“0”，此试探值经D/A转换成电压Vc，然后将Vc与模拟输入电压Vx比较。如果Vx≥Vc，说明SAR最高位的“1”应予保留；如果VxVc，说明SAR该位应予清零。然后再对SAR寄存器的次高位置“1”，依上述方法进行D/A转换和比较。如此重复上述过程，直至确定SAR寄存器的最低位为止。过程结束后，状态线改变状态，表明已完成一次转换。最后，逐次逼近寄存器SAR中的内容就是与输入模拟量V相对应的二进制数字量。显然A/D转换器的位数N决定于SAR的位数和D/A的位数。图3-10(b)表示四位A/D转换器的逐次逼近过程。转换结果能否准确逼近模拟信号，主要取决于SAR和D/A的位数。位数越多，越能准确逼近模拟量，但转换所需的时间也越长。 逐次逼近式的A/D转换器的主要特点是： 转换速度较快，在1—100/μs以内，分辨率可以达18位，特别适用于工业控制系统。 转换时间固定，不随输入信号的变化而变化。抗干扰能力相对积分型的差。例如，对模拟输入信号采样过程中，若在采样时刻有一个干扰脉冲迭加在模拟信号上，则采样时，包括干扰信号在内，都被采样和转换为数字量，这就会造成较大的误差，所以有必要采取适当的滤波措施。 2．A/D转换的重要指标 1）分辨率(Resolution)： 分辨率反映A/D转换器对输入微小变化响应的能力，通常用数字输出最低位(LSB)所对 应的模拟输入的电平值表示。n位A/D能反应1/2n满量程的模拟输入电平。由于分辨率直接与转换器的位数有关，所以一般也可简单地用数字量的位数来表示分辨率，即n位二进制数，最低位所具有的权值，就是它的分辨率。 值得注意的是，分辨率与精度是两个不同的概念，不要把两者相混淆。即使