第八章X射线荧光光谱法探索.ppt

X射线荧光光谱分析法 第一节 基本原理和方法特点 第二节 X射线荧光光谱仪结构及工作原理 第三节 X射线荧光光谱分析的应用 第一节 基本原理和方法特点 一 X射线荧光光谱分析法的基本原理 二 X射线荧光光谱分析法的特点 （一）优点 （1）分析速度快。 （2）X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态及物理状态无关。 （3）非破坏分析。 （4）X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对化学性质上属于同一族的元素也能进行分析。 （5）分析精密度高。 （6）X射线光谱比发射光谱简单，故易于解析。 （7）制样简单。 （8）X射线荧光分析系表面分析，测定部位是0.1mm深以上的表面层。 （二）缺点 （1）难于作绝对分析，故定量分析需要标样。 （2）原子序数低的元素，其检出限及测定误差都比原子序数高的元素差。 第三节 X射线荧光光谱分析的应用 （一）块状样品 一 样品制备 （二）粉末样品 （三）液体样品 （一）定性分析法 二 定性分析 （二）谱图分析步骤 （一）测量条件的选择 三 定量分析 （二）常用定量分析法 （三）仪器漂移的校正 b.高次线的干扰，通过选择适当的脉冲高度分析器条件消除干扰，一次线的干扰通过选择狭缝、晶体来提高分辨率以减轻干扰。 另外还可把测定谱线换成没有干扰的谱线。 2.测定方式： 测定X射线强度的方式有定时计数法、定数计时法和积分计数法。一般采用定时计数法。