运放稳定性20电容性负载的稳定性—具有双通道反馈的RISO.docVIP

作者：德州仪器 TI 线性应用工程经理Tim Green本系列的第10部分是我们所熟悉的《电气工程》杂志 Electrical Engineering 中《保持电容性负载稳定的六种方法》栏目的第六种方法（也是最后一种方法）。这六种方法包括Riso、高增益和CF、噪声增益和CF、输出引脚补偿以及具有双通道反馈的RISO。在第10部分中，我们将阐述具有双通道反馈的RISO。 这种拓扑结构通常用于缓冲高精度参考集成电路。作为一种电压缓冲器，运算放大器电路可提供较高的源电流和吸收电流，这两种电流最初均来自高精度参考集成电路。虽然，我们特别关注其中一种电路增益——电压跟随器电路增益，但是，当增益大于1时（只对所提供的计算公式做稍微调整），我们仍可以采用具有双通道反馈的 RISO。在此我们将重点讲述两种最主要的运算放大器拓扑结构，即双极发射极跟随器以及CMOS RRO。分析和合成的步骤和技术相类似，但是，仍存在细微的差别，这些细微的差别足以确保观察到各种不同的输出拓扑结构。为了获得一种意外的收获，我们有意不遵循经以往的历史经验，并创建BIG NOT以检测不适当稳定性补偿的效果。 从稳定性分析工具套件中，我们可以看到，具有双通道反馈的RISO技术由一阶分析得出，经Tina SPICE环路稳定性仿真确认，并由Tina SPICE中的Vout/Vin AC传输函数分析进行检验，最后采用T