小型台式XRDXRF联用仪 BTX PROFILER单样品系统.doc

产品名称：小型台式XRD-XRF联用仪 BTX PROFILER单样品系统 产品型号：小型台式XRD-XRF联用仪 BTX PROFILER单样品系统 应用描述：土壤地质、岩石矿物标本的元素分析及矿物成分分析 资料下载：点击下载 品牌：OLYMPUS INNOV-X 产地：美国 典型用户：制药 X射线衍射技术/发展史 X射线衍射技术/集成技术 BTX PROFILER的XRD技术来自于美国宇航局NASA埃姆斯实验室，该技术曾被美国宇航局火星计划好奇号、漫游者使用过；XRF技术则是奥林巴斯ED-XRF技术的结晶，两大技术结合，可以提供材料的元素、成分、结构等全方面的信息，可减少实验成本，节约时间和空间。BTX PROFILER 采用两套独立的X射线源和探测器，以保证快速获取全面优质的数据信息，XRD部分使用CCD二维面探测 器，该探测器可以获取整个德拜环的衍射数据信息，XRF部分则采用SDD探测器，实现更低的检测下限和更高的灵敏度。 技术规格 BTX-PROFILER单样品系统 BTX-PROFILER旋转多样品系统 49.×39.7×34.4cm 67.4×39.7×34.4cm 重 量 23.13kg 32.66kg 温 度 -10°C～35°C -10°C～35°C XRD的技术规格 光管类型 陶瓷管 陶瓷管 Cu/Co Cu/Co 管电压 30kv 30kv 管电流 330uA 330uA 角度范围 5°-55°/20°-70°（2θ） 5°-55°/20°-70°（2θ） 分辨率 0.25°（2θ） 0.25°（2θ） 探测器 1024×256二维CCD面探 1024×256二维CCD面探 冷却系统 电子制冷 电子制冷 XRF的技术规格 光管类型 陶瓷管 陶瓷管 铑 铑 管电压 40kv 40kv 管电流 200uA 200uA 探测器 超大面积SDD 超大面积SDD 滤波器 可配置7个 可配置7个 氦气净化装置 可选（轻元素分析更佳） 可选（轻元素分析更佳） 元素分析范围 Mg-U Mg-U XRD和XRF组合技术 ①XRD微聚焦X射线管 ? ②XRD X射线束 ? ③XRD准直器 ?④XRD样品 ? ⑤CCD探测器 ?⑥XRF X射线管 ? ⑦滤光轮 ?⑧XRF X射线束 ⑨XRF样品 ⑩ XRF SDD探测器 用于化合物分析的二维XRD XRD采用透射衍射几何技术，使用能量敏、 位敏的二维CCD面探测器，实现了仪器的小 型化和更为紧凑的结构 1、探测器收集整个德拜环的信息而非传统 台式机只能收集德拜环一个截面的信息，增大 了数据 2、检测快速，全谱显示而非步进扫描，普通样 品 分钟即可 无测角仪的XRD 使用样品振动系统(样品在检测过程中以6000hz的频率随机振动)，替代传统台式XRD测角仪可以实现以下功能： 1、样品制备简单：样品无需制片、压片、刮片，只需得到150um的颗粒即可；2、实现样品颗粒的全方位角度的检测；3、完全消除检测过程中晶体的择优取向；4、增加了样品检测量 用于全元素分析的能量色散型（ED）XRF 1、大功率射线管，配以超大面积SDD探测器；2、真正实现了在现场进行快速，准确的检测；3、直接显示元素的ppm含量与百分比含量；4、全元素分析，从镁（Mg）到铀（U）之间的所有元素； 5、7个滤光片设置，可根据元素自动选择最优滤光片；6、可选配氦气装置进一步提高轻质元素的检测效果； XRD-XRF联用仪/软件 XRD ?XRD使用xpowder分析软件，该软件可提供包括背景扣除、平滑处理、Ka2峰剥离、多谱图叠加等功能，可以进行物相定性定量分析晶体结构分析、结构精修处理、结晶度分析、晶粒度分析等功能。 ?物相定量分析可以使用RIR值及里特维德全谱拟合，实现复杂混合物的准确定量，尤其适合于矿物的全岩成分分析。 XRF ?XRF数据处理软件提供有关材料的定性、定量信息，其中包含光谱视图和元素峰值辨别。定量分析使用基本参数（FP）法。在实际应用中，可以使用一系列用户指定的认证标准对这些基本参数校准进行优化（经验分析）。使用离线“方法建立器”软件包可以优化校准曲线， 自行定制分析程序，并将分析程序下载到分析仪器。 ?软件还提供了其它一些用于分析的性能，如：查看元素范围、 ?可选峰值识别、显示含量结果，以及样件组的频谱覆盖。 XRD-XRF联用仪/应用领域 BTX PROFILER集成二维XRD技术及ED-XRF技术，可对材料实现全面的分析检测，提供材料的元素组成、化学成分、晶体结构等方面的信息。广泛应用于地质矿产、石油地质录井、地球化学、制药、催化剂、法医、材料等工业及科研领域。 矿物鉴定 ?