材料研究与测试法 答案A08.docVIP

武汉理工大学考试答案（A卷） 2011-2012学年1学期 材料研究与测试方法 时间120分钟 一、选择题（共10题，每题2分） 1、特征X射线产生的机理是：（　　　） ①高速电子受阻　②原子内层电子跃迁　③外层电子被打掉。 2、X射线连续谱中存在一个短波极限，其波长入＝（　? 　） ①1.24/V(千伏) nm ②12.4/V(千伏) nm? ③12.4/伏 nm 3、在德拜照相法中，下面那些参量变化会提高分辨率（????? ） ①相机半径减小 ②衍射角减小 ③X射线波增长 4、体心立方结构晶体的消光条件是（????? ） ① (h+k)为奇数? ② (h+k+l)为偶数? ③ h、k、l为异性数 5、下面哪种衍射方法不是使用的单晶体（????? ）。 ① 劳厄法?? ②周转晶体法?? ③粉末法 6、透射电镜的分辨率主要去决定于下面哪个（????? ）。 ①?物镜? ② 中间镜? ③ 投影镜 7、让衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉得到图像衬度的方法，叫做（?????? ）。 ①明场成像??? ②暗场成像??? ③中心暗场成像 8、在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做（?????? ）。 ①二次电子? ②背散射电子? ③俄歇电子 9、把透镜像平面允许的轴向偏差定义为（??????? ）。 ①球差? ②景深? ③焦长 10、二次电子的产额