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统计过程控制 S P C 课程大纲： SPC的起源和发展 SPC的目的 基本的统计概念 波动（变差） 普通原因/特殊原因 控制图的原理说明 正态分布说明 α、β风险说明 控制图的种类及选择 计量型控制图 Xbar-R、Xbar-S、X-R、X-MR 控制图 Cp、Cpk、Ppk指数说明 计数型控制图 p、np、c、u控制图 6?简介 1、控制图的起源 控制图是1924年由美国质量管理大师W.A. Shewhart（休哈特）博士发明。因其用法简单和效果显著，人人能用、到处可用，逐渐成为实施质量控制不可缺少的主要工具，当时称为(Statistical Quality Control)。 2、SPCSQC 三、基本的统计概念 数据的种类 波动（变差）——波动的概念、原理及波动的种类 普通原因/异常原因 基础的统计量——平均值X、中位数X、极差R 标准偏差?、S 1、数据的种类 计量型 特点：可以连续取值也称连续型数据。 如：零件的尺寸、强度、重量、时间、温度等 计数型 特点：不可以连续取值，也称离散型数据。 如：废品的件数、缺陷数 3、基本统计量说明 1、平均值 Xbar