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- 2017-02-16 发布于湖北
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K边界原理 概念:指某些高Z物质的射线吸收系数曲线在一定能量水平时,曲线显示一锐利边缘的不连续锯齿边界。 机理:主要是由于高Z物质K层电子发生光电效应的几率在K边界附近发生跃变,导致吸收系数呈现锯齿缘激变。 对应K层电子结合能Wk 利用: I/Ba 造影 I (Z 53) 33.2keV Ba(Z 56) 37.4keV K边界处于诊断X线范围,光电效应显著,可获得高对比影像。 33.2keV (软组织) (高Z) 33.2 由于I在33.2kev处存在K边界现象,此处的光电效应发生几率显著增加,利于获得高对比度影像 (三)物质对单能窄束X线的吸收规律 遵循指数衰减规律:I I0e-μx 意义:通过单位厚度物质时X线强度的相对变化 其中: -:强度减少 单位:m-1 单能:所有光子能量相同; 窄束:方向一致无散射线 →→单能窄束为理想情况 规律:(对于单能窄束X线) --光子数目等比减少;光子能量守恒 单能窄束X线通过物质后的衰减图 同时: 波长越短,吸收越少(硬线穿透力强) 原子序数越高,吸收越多(高密度物质难穿透) 以上为窄束X线(理论上)的吸收规律 由于散射线的存在,窄束X线实际上为宽束X线 即,既有衰减后的原发X线(窄束),又有其他方向上的散射线 宽束X线实际强度>指数规律衰减的窄束X线强度 意义:测量点强度稍大于指数衰减值 (影响防护估算) 对
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