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粗糙度参数解说 介绍 参数概述 表面纹理可由与一定的纹理特性相关的参数来量化。这些参数可按测量的特点类型，被分成几组类型。 它们是: Amplitude（幅值） Spacing（间距） Hybrid（混合） RW（R＋W） Aspheric（非球面） 曲线及相关参数 Rk 参数 影响表面粗糙度的数字评估是三个特性长度。 它们是: 取样长度，也被称为Cut-Off Length 评价长度，也被称为Assessment Length 或Data Length 横向移动长度 另外，屏幕上的帮助工具,以一个容易阅读的Exploring Surface Texture（表面形貌浏览）文本描述，其主题详细包括了什么是表面形貌及为什么必需测量它。该文本包括用Form Talysurf仪器提供通常的表面形貌背景信息和测量仪器的特殊测针类型。它也给出了参数的有用信息：它们的来历和使用。对进一步更深的表面评论及其测量，可从Taylor Hobson的手册Precision 2中得到。 幅值参数 这些是测量在轮廓（Z轴）的垂直位移。 这类参数包括: 未滤波参数 滤波的粗糙度参数 滤波的波纹度参数 间距参数 这些参数是沿表面（X轴）对不规则间距的测量，而与不规则的幅值无关。 这类参数包括 未滤波参数 滤波的粗糙度参数 滤波的波纹度参数 混合参数 指与表面不规则的幅值参数和间距参数都有关的参数（Z轴和X轴），或者规定了一个量，如面积或体积，被称作Hybrid（混合）参数。 这类参数包括: 未滤波参数 滤波的粗糙度参数 滤波的波纹度参数 曲线及相关参数 这些参数是沿表面（X轴）对不规则间距的测量，而与不规则的幅值无关。 这类参数包括： 原始轮廓 轮廓高度幅值曲线 Pc Pmr Pmr(c) 滤波的粗糙度 轮廓高度幅值曲线 Rc Rmr Rmr(c) 滤波的波纹度 轮廓高度幅值曲线 Wc Wmr Wmr(c) R加W 参数 这些参数与R和W参数相关，被定义在标准BS ISO 12085:1996里面。 这些分析包括: Pt R AR Rx SR SAR SW SAW Wte W AW Wx 非球面分析参数 这些参数与非球面形状的特殊分析有关。 这些分析包括: Fig Ra Rt Smx Smn Tilt Xp Xt Xv Rk参数 这些参数从来自于粗糙度测量的材料比曲线的计算而得，并提供以下的值: 核心粗糙度深度 = Rk 简化的峰高度 = Rpk 简化的谷高度= Rvk 这些参数被定义在BS ISO 13565 part 2: 1996里面。 长度 – 概述 有三个与表面形貌定量评定有关的特性长度。 它们是: 取样长度，也被称为Cut-Off Length（长度） 评价长度也被称为Assessment（评估）Length 或 Data（数据）Length 移动长度 取样长度, Cut-Off Length 这是用来识别不规则表面粗糙度特性的参考线的长度。 取样长度是用于在测量箱移动方向识别表现测量轮廓特性的长度。 粗糙度和波纹度分析的取样长度等于所选滤波器的波长。未滤波的（原始）轮廓的取样长度等于其评价长度。 分析长度 A = 启动长度 ln = 评价长度 C = 结束宽余长度 l = 取样长度 E = 横向移动长度 F = 被测表面的轮廓 评价长度, 评估长度, 数据长度 测量方向的移动长度包含了评价表面粗糙度参数的值，它被称为评价长度，或评估长度，或数据长度。它可以含有一个或更多的取样长度。 横向移动长度 横向移动长度是传感器沿被测表面移动的全部长度。它通常大于评价长度，这是因为必须在每一次移动的末尾留有余量，以确保机械和电气的瞬时冲击能从测量数据中剔除。 形状参考 形状参考 – 概述 量化粗糙度的主要需求是提供一些与测量轮廓数据相关的基准。在表面计量学里，我们不能测量大多数材料的直径（这属直径计量的领域），但可测量其对理想形状（如一个极佳的平面）的偏差。因此，当进行测量和评价结果时，必须考虑表面的形状。它一开始就把仪器调整到与表面的独特形状相适应。然后用与代表零件理想形状（或与实际接近的近似值）的一个参考线（或几条线）来计算出测量数据。 用 Form Talysurf Series 仪器评价的参考有: 最小二乘直线 最小区域直线 基准(仪器硬件参考) ? 最小二乘圆弧 半径，椭圆或双曲线 非球面 最小二乘直线 最小二乘(LS)线一般被用作平均参考线。在表面形貌分析中，最小二乘的最佳直线与评价原始轮廓的测量数据相匹配。 LS线的定位使得轮廓上偏离该线的平方和为最小。它是通