按键类检验标准TKY-QA-SIP-010_A1.docVIP

1．目的 规范来料检验，为按键来料检验提供检验依据。 2. 范围 本规格书适用于我司手机系列按键类部品。 3．定义 3.1 抽样方案： GB/T 2828.1-2003 II级一般抽样水平，合格质量水平:A类=0、B类=0.4、C类=1.0 3.2 致命缺陷（Critical Defect）：产品存在对使用者的人身及财产安全构成威胁的缺陷或造成不能使用的缺陷或严重影响主要性能指标、功能不能实现的缺陷，A类。 3.3 严重缺陷（Major Defect）：功能缺陷影响正常使用性能参数超出规格标准；漏元件、配件或主要标识，多出无关标识及其他可能影响产品性能的物品；包装存在可能危及产品形象的缺陷导致最终客户拒绝购买的结构及外观缺陷，B类。 3.4 次要缺陷（Minor Defect）：影响外观的缺陷，不影响产品使用，最终客户有可能愿意让步接受的缺陷，C类。 注：有些外观检查中发现的问题会影响到产品的功能，则按照功能缺陷的标准来确定缺陷等级；如按键脱落会导致按键无功能，为主要缺陷。有些功能检查中发现的问题仅影响到产品观感，则按照外观缺陷的标准来确定缺陷等级；如按键漏光。 4．权责 4.1 IQC负责按照此规范进行检验 4.2 QE负责本规范之标准制定 4.3 品质经理负责本标准之批准 5．内容 5.1缺陷定义 批锋 在外壳部件的分隔线或交界在线有多余的塑料料，另外也表现为部件表