实验一双极型晶体管(BJT)特性参数测量.docVIP

实验一、双极型晶体管（BJT）特性参数测量 一、实验设备 （1）半导体管特性图示仪 XJ4810A 型 ，（2）BJT 晶体管（S9014、S8050、S8550）， （3）二极管（1N4001） 二、实验目的 1、熟悉 BJT 晶体管特性参数测试原理； 2、掌握使用半导体管特性图示仪测量 BJT 晶体管特性参数的方法； 3、学会利用手册的特性参数计算 BJT 晶体管的混合π型EM1 模型参数的方法。 三、实验仪器XJ4810型/XJ4810A型半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析，便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/div，配备扩展装置后，VC可达3KV；可测试CMOS及TTL门电路传输特性；可对场效应管进行配对或对管测试；可测试三端稳压管特性。