使功用MII设计SPC图.docVIP

CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。 制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。 制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度，以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上，作为制程持续改善的依据。 当我们的产品通过了GageRR的测试之后，我们即可开始Cpk值的测试。 CPK值越大表示品质越佳。 CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s）） Cpk——过程能力指数 CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s] Cpk应用讲议 1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。 2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp. Ca: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。 3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势) 4. 当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。 5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。 6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。 平均值3倍标准差平均值-3倍标准差 7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差＝规格上限－规格下限；规格中心值＝（规格上限+规格下限）/2； 8. 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 9. 依据公式：Cp =T/6 ， 计算出制程精密度：Cp值 10. 依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值 11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策） A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低 A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之 A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级 B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级 C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力 D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。:XBar-R控制图和XBar-S控制图。 连续的单值数据:I-MR控制图。 离散的符合二项分布的不合格品数:(分组样品容量相等用nP控制图，不等用P控制图) 离散的符合泊松分布的缺陷数::(分组样品容量相等用C控制图，不等用U控制图) XBar-R控制图 XBar(平均值控制图)反映变量X随时间的集中趋势及分组样本之间的变动性。注意控制图中的每个点是每个分组的平均值，而控制图的中心线是分组的平均值的平均值。R(极差控制图)极差控制图监测的是分组样本内部随时间的变动。该图的中心线代表长期的分组样本之极差的平均值,或称为R。对于R控制图只适合于样本容量较小的场合。 Bar-S控制图 XBar(平均值控制图)反映变量X随时间的集中趋势及分组样本之间的变动性。这个同XBar-R控制图。对于S控制图是值标准差，标准差控制图监测的是分组样本内部随时间的变动。该图的中心线代表长期的分组样本之标准偏差的平均值，标准差图可适用于分组样本容量(即n)大于2的任何场合。(为验证过程是否稳定，每天采样10个数据值，一共采样10天。) I-MR(Individuals and Moving Range)控制图 主要是反映连续的单值数据随时间的发化。使用范围在过程的特性值较少，每次都只能够得到一个数据。I-MR图由于使用个体数值，与X bar-R图比较更易受干扰。比如我们要记录车辆来回AB两点的时间是否受控，可以记录一系列连续的数据值进行I-MR控制图分析。 P图和nP图(离散数据的不合格数) P图是一种计数型控制图，它绘制的是每个样本的不合格品率。每个分组样本可以有相同的样本量或者不相同的样本量。此图通用性最强，在计数型控制图中用途最广。P图一般需要较大的样本容量。质量越好，那么要检测出过程失控就需要越大的分组样本。(记录每天的焊点数和焊点的不良个数，焊点数为分组样品每天是可以不同的。)nP图：是一种计数型控