第六章纳米微粒尺寸的评估简析.ppt

* * Bs可通过测量标准物(粒径10-4cm)的半峰值强度处的宽度得到。Bs的测量峰位与BM的测量峰位尽可能靠近。最好是选取与被测量纳米粉相同材料的粗晶样品来测得Bs值。 (1) 应选取多条低角度x射线衍射线 进行计算，然后求得平均粒径。 (2) 当粒径很小时，结果颗粒内部会产生第二类畸变，这也会导致x射线线宽化． 因此，为了精确测定晶粒度时，应当从测量的半高宽度BM中扣除二类畸变引起的宽化． 四.注意问题 一.概念：比表面积是指每克物质中所有颗粒总外表面积之和。 比表面积是衡量物质特性的重要参量。 比表面积是表征粉体中粒子粗细的一种量度。 6.3 比表面积法 通过测定粉体单位重量的比表面积Sw，可计算纳米粉中粒子的直径(设颗粒呈球形)： d=6/?Sw ?为密度，d为颗粒直径；Sw 为比表面积， Sw一般测量方法为BET多层气体吸附法。 二.测量原理 V为被吸附气体的体积；Vm为单分子层吸附气体的体积；p为气体压力；p0为饱和蒸气压；k为y/x 三. BET方程 令 将上式两式相加，取倒数得到Vm ，即 把Vm换算成吸附质的分子数（Vm/V0?NA）乘以一个吸附质分子的截面积Am，