WFL车铣复合机床测量循环的后置处理.docVIP

浅谈WFL车铣复合机床测量循环的后置处理 作者：成都飞机工业公司 刘陨双 WFL车铣复合机床除了有强大的多轴加工功能，还能自动找正零件和在线测量零件。有了这些功能，车铣复合机床不仅能够大大提高零件的加工精度，而且能够大大提高零件的加工效率。 WFL车铣复合机床的功能比较强大、效率比较高，不仅有车、多轴铣和镗孔，还有多种测量循环，因此编程就比较复杂。实际生产中，虽然手工编程也能实现这些功能，但是手工编程也有一定局限性，因此实现车铣复合机床的电脑自动编程，是一件很有意义的事情。 以下就以WFL机床的一个简单的测量循环“PROBE”为例，叙述如何使用NX软件编程，以及后置处理输出WFL车铣复合机床测量循环的方法。 一、机床测量循环的代码定义 要写出能输出“PROBE”的正确的后置处理程序，首先必须要理解WFL车铣复合机床测量循环“PROBE”的含义—该测量循环的含义是在随机轴上测量轨迹点。该测量循环的格式为：PROBE(AX，DIS，MP，NUM)，各参数的含义如下。 AX：测量轴。测头由AX定义的运动轴以很快的进给率(一般是以G0的速度)接近工件，然后进行测量，在WFL车铣复合机床上有三个测 量轴，X1、Y1和Z1，即机床的X、Y和Z轴。 DIS：测头移动的距离。测量轨迹点(即零件上要测量的点)到起始点(开始执行G1的点)之间的距离必须在DIS定义的距离之内，即二者距离必须小于该值。如果测量轨迹点与起始点之间的距离大于该值时，测头是测量不到测量轨迹点的。DIS值可以为正也可以为负，分别表示测量轨迹的运动方向是沿着测量轴的正方向还是负方向。 NUM：在第一次测量轨迹点之后，测头会沿测量轴稍回撤，然后以正常的测量进给率重复测轨迹点，重复的次数由NUM指定，一般是测量3次。 MP：是指定测量结果的存储位置。测量结果输出到机床的内存单元MC_P〔0中，同时被存储到以MP为下标的机床内存中，变成测量点MC_POINT〔MP〕。 我们只要在后置处理的程序中正确定义了这4个参数，并实现其输出，就可以输出该测量循环的正确机床代码。 以下的一段机床代码就是PROBE 应用的一个实际的例子，测量的零件和测量点如图1所示。 … N035 G54 N040 G0 X1=48 Y1=0 C1=0 Z1=10 N045 PROBE (“Z1”，-15，1，3) N050 G0 X1=93 N055 G0 Z1=-50 N060 PROBE (“Z1”，-15，2，3) … 在这段机床代码中，PROBE (“Z1”，-15，1，3) 的测量点为MP1，MP1的位置由该代码的上一句程序指定。该例中测量点MP1的位置为 (48，0，0)，测头沿机床Z1轴的负方 向进行测量，定义的测头移动距离为15，测头的测量起始点为Z1=10 的位置，测量轨迹点自Z1=0 的位置，测量轨迹点到测量起始点之间的距离为10，小于测头移动距离15，测量结果存储在机床内存MC_P〔0〕和存储单元MC_POINT〔1〕中，重复测量 3 次。 PROBE (“Z1”，-15，2，3) 的测量点是，的位置由该代码的前两句程序指定MP2，MP2该例中测量点MP2的位置为(93，0，0)，测头沿机床Z1轴的负方向进行测量，定义的测头移动距离为15，测头的测量起始点为Z1=-50的位置，测量轨迹点自Z1=-60的位置，测量轨迹点到测量起 始点之间的距离为10，小于测头移动距离15。测量结果存储在机床内存MC_P〔0〕和存储单元MC_POINT〔2〕中。 此处需要注意的是：此处为堆栈存储的方式，在完成第二次测量后，MC_P〔0〕内存储的值自动移动到MC_P〔1〕，最大能到MC_P〔3〕，该点重复测量3 次。 二、如何用后置处理器实现机床代码的正确输出 在NX 6.0中编写该测量循环的前置比较简单，这种测量循环在NX6.0中用操作“probe_point”就很容易写出正确的前置，后置处理的任务就是把前置程序翻译成WFL车铣复合机床能识别的机床代码PROBE(AX，DIS，MP，NUM)。 请注意：后面所提到程序的执行程序皆为后置处理时的执行顺序。以下所述就是定义并如何输出正确的机床代码的方法和步骤。 1.输出测量轴 AX 实现这一输出的后置处理程序如下 (后置处理的程序皆为TCL语言编写)。 global mom_probe_direction global axis global dis global MP if{$ mom_probe_direction = =“XAXIS”} { set axis X1} if{$ mom_probe_directio