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一种织物瑕疵检测方法摘要:针对纺织业生产过程中的断线问题，对瑕疵检测进行了研究。介绍了基于单片机的检测系统的设计，对检测系统实际检测到的布匹瑕疵的波形图进行处理分析，根据分析结果设计基于“自基准判别”的思想的控制程序。实物检测结果表明，本系统可以准确的检测织物生产出现的瑕疵，是织物瑕疵检测一种可行的方法。关键词：瑕疵检测、单片机、波形分析、自基准判别0 引 言在纺织品生产过程中，质量控制与检测是非常重要的，织物疵点检测是其中最重要的一部分。目前国内织物检测基本上是由人工视觉来完成。在检测过程中，由于人眼视觉存在偏差，首先，一个检验员精力集中的最长时间只有20 min~30 min，超过这个时间就会疲劳，检验员的注意力就会降低引起漏检。其次，一个检验员的工作状态受到外界因素，如疵点类型和大小、频率、天气、身体情况影响会不断变化，较低的重现率并不奇怪，也会影响检测结果。[1]基于以上原因，织物疵点的自动检测技术是近年来国内外学者共同关注和研究的热门课题之一。综述其原理方法可分为以下三类：纹理结构模型方法【2】、象素特征统计方法、图像变换滤波方法【3】。本研究采用单片机对采集的信号进行分析处理，相比于通过分析从图像中发现异常的纹理结构，从而确定织物疵点的图像处理的织物疵点检测技术，本研究检测简单实用、准确率高。1 系统设计1.1系统框图 系统实现过程：光源发出的光线经透镜折射成平行光透射过布匹再聚焦为一点被传感器采集，相比于扩散光线平行光能准确的的反应布匹的信息。光电传感器将光信号转变为电信号，经滤波放大电路去噪声和优化信号处理，提取有用的信号再经A/D转换成数字信号以便单片机系统可以采集到信号并对信号进行处理。单片机系统通过内部的自基准瑕疵判断程序对信号进行处理，根据处理结果控制电机和外部人员设备交换信息。采用单片机控制系统可靠性高，处理速度快，能实现实时控制，一出现瑕疵即可报停，节约生产成本。一般的光电检测系统都采用反射光检测，但是一般物体表面反射率不到10%，反射的光线很弱，而生产现场往往有白炽灯太阳光反射等嘈杂光信号使信号采集困难、信号信噪比小、信号处理难、系统可靠性差。本研究采用的透射光检测则没有这方面的问题。1.2 前端电路设计系统采用光电传感器检测，光电传感器是指能够将一定波长范围的光转换成某种电量的传感器。现以光敏二极管为例简单介绍其原理。光敏二极管的外型与一般二极管一样，只是它的管壳上开有一个嵌着玻璃的窗口，以便于光线射入，为增加受光面积，PN结的面积做得较大，光敏二极管工作在反向偏置的工作状态下，并与负载电阻相串联，当无光照时，它与普通二极管一样，反向电流很小（＜μA），称为光敏二极管的暗电流；当有光照时，载流子被激发，产生电子-空穴，称为光电载流子。在外电场的作用下，光电载流子参于导电，形成比暗电流大得多的反向电流，该反向电流称为光电流。光电流的大小与光照强度成正比，于是在负载电阻上就能得到随光照强度变化而变化的电信号。因此，传感器采用反向截止的接法，传感器输出一个电压信号： U0=IA*Ra (1)式中 U0—输出电压信号；IA—传感器光照电流；Ra—串联电阻，Ra取10K。正常环境下，环境中充满各种光信号，这些构成了检测系统的背景噪声，尤其以工业生产中用于照射的白炽灯影响最大，所以应滤去该部分的信号。在我国电网的频率为50HZ,所以为了滤去噪声信号应对电路进行低通滤波处理。普通的RC电路即可满足要求，取R=10K,C=1Uf，可得f=16HZ，即满足要求。传感器直接输出信号较小，系统采集不易，需进行放大。采用基于lm324芯片的同向比例放大电路，放大电路使用可变电阻，通过调整可变电阻可使在不同光照条件下都能获得范围合适的信号。相关电路如图所示： 图二 滤波放大电路1.3 A/D转换和单片机系统本研究拟检测1mm大小的瑕疵，则系统应每移动0.5mm检测一次，假设布匹以2M/S的速度卷起，即一秒内需采样40000个点，则系统采样频率应大于4KHZ。系统所采用的ADC0832最大工作频率为250KHZ，8位转换精度，每次转换需要19个A/D转换时钟。因此，ADC0832可允许的最大采样频率为13.2KHZ,显然满足上述4KHZ的采样频率要求，因此可使用ADC0832芯片进行A/D转换。系统处理核心是基于STC89S52芯片的单片机系统。STC89S52芯片有三列I/O接口P1、P2、P3支持直接读写各引脚的TTL电平信号，P3支持串口通信单片机可与外部设备进行实时交换信息。单片机支持中断系统，有计数/计时器、串行口中断、外部中断，可以通过中断协调各执行任务处理顺序，是单片具有处理一定复杂程度的控制要求的能力。这里我们选用单片机为控制核心，有经济、可靠、实时处理等优点。文献一：织物疵点自动检测技术的研究 2007年