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第四章 多晶体分析方法 §4.1 引言 ㈡.德拜相机 德拜相机剖面示意图 二.试样及底片安装 3. 摄照规程的选择 四、德拜相的误差及修正 （一）试样吸收误差 试样对X射线的吸收造成衍射线偏离理论位置，因此在计算时需对2L进行修正。 考虑到金属材料对X射线吸收较强烈，可认为仅是试样表面受到照射（0.02mm) 2L0= 2L外缘－2? 其中：2L0 —— 弧对的平均理论距离 2L外缘 ——试样吸收后得到的实际弧对距离 ? —— 圆柱试样的半径 （二）底片伸缩误差 由于相机直径制造误差、底片安装误差(未紧贴相机内腔)、或底片在冲洗过程伸缩 2?R误差 影响θ角的准确度 所以，利用偏装法直接测量底片周长，避免上述误差，称为有效周长C0 五. 立方系物质德拜相的计算 （一）物相鉴定步骤 1、对弧对标号； 2、测量有效周长C0；（0.01mm) 3、测量并计算弧对间距2L； 4、计算θ； 5、按布拉格方程计算d; 6、估计相对强度； 7、查卡片确定物相。 衍射线的干涉指数 （三）计算点阵参数 按照立方系晶面间距公式 注意：高θ计算结果较精确 §4.3 X射线衍射仪 一. 衍射仪的构造