课程历年考试题汇编分解.doc

研究生《材料研究方法》《材料表征技术》《材料现代分析技术》课程考试题汇编 注：题目有可能重复，不同年级的考试内容也不同。 一、选择题，下面各题只有一个答案是正确的，请选择正确答案写在答题纸上。 X射线具有许多特性，下列哪一项不是X射线的特性？ A. 使照相底片感光 B. 在物质中传播发生明显折射 C. 使气体电离 D. 具有一定的穿透能力 下列哪组干涉面属于晶带，且为面心立方中X射线衍射线出现的实际晶面？ A. B. C. D. 在SEM中，物镜是一种弱磁透镜，具有较长的焦距，其目的是使样品室和透镜之间留有一定空间，以便装入各种信号探测器。除此之外，它还具有什么作用？ A. 成象放大 B. 图象投影 C. 会聚电子束 D. 扫描电子束 下列哪种情况会产生荧光辐射? A. Cu K(激发Cu K(荧光 B. Cu K(激发Ni的K系荧光 C. Cr K(激发V的K系荧光 D. Fe K(激发Mn的K系荧光 对于同一个晶体物质： A. 依据其正方底心点阵和正方简单点阵所得到的倒易点阵是完全相同的 B. 依据其正方底心点阵和正方简单点阵所得到的倒易点阵是完全不同的 C. 依据其正方底心点阵和正方简单点阵所得到的倒易点阵所属晶系是不同的 D. 依据其正方底心点阵和正方简单点阵所得到的倒易点阵所属晶系是相同的，但其布拉菲结构特征是不等价的 俄歇电子 A. 其能量与激发源的能量无关，只取决于物质原子的能级结构 B. 其能量与激发源的能量有关，不同能量的激发源激发不同能量的俄歇电子 C. 是物质被激发后唯一可能产生的一种辐射 D. 是物质中被激出的内层电子 高角度散射暗场（HAADF）技术利用环形探测器只探测高角度散射电子，没有利用中心部分的透射电子，将这种方式与扫描透射电子显微方式（STEM）结合，就能得到暗场STEM象。如图，一束电子透过厚度均匀的试样后，在HAADF图象中，原子序数大的部分相对于原子序数小的部分 A. 衬度一样 B. 衬度相近 C. 呈亮相 D. 呈暗相 透射电镜的分辨本领主要取决于物镜，而物镜的分辨本领决定于 A. 衍射效应 B. 衍射效应和象散 C. 衍射效应和色差 D. 衍射效应和球差 X射线衍射仪测定试样表面宏观应力的实验方法是 A. 测量晶体内几个不同取向的不同晶面的晶面间距 B. 测量晶体内几个相同取向的不同晶面的晶面间距 C. 测量晶体内垂直于应力方向的某一晶面的晶面间距 D. 测量晶体内不同取向的同一个晶面的晶面间距 10．测定样品中某元素的价态，下列哪一种方法最佳? A. WDS B. EDS C. AES D. XPS 孪晶是指晶体中原子排列以某一晶面（孪生面）成镜面对称的部分。孪晶可以在形变过程形成，可以在晶体生长时形成（如自然孪晶），也可以在退火及相变过程形成。如右图是Cr18Ni5Si1.5Mo2.7－Fe双相不锈钢中的孪晶形貌。 11．图中A－A条纹处于晶内，它表示 A. 位错 B. 层错 C. 等厚条纹 D. 等倾条纹 图中B－B是孪晶界，其条纹象是 A. 位错 B. 层错 C. 等厚条纹 D. 等倾条纹 图中P处白色条纹表示 A. 位错 B. 层错 C. 等厚条纹 D. 等倾条纹 如右图是奥氏体不锈钢中与基体共格的含铜沉淀相，它们（P1、P2、P3）呈现蝶形轮廓衬度。试样薄膜厚度均匀，基本无弯曲。 图中蝶形衬度是由下列哪种衬度引起的？ A. 应变场衬度 B. 位向衬度 C. 结构因子衬度 D. 相界衬度 图中蝶形图象表示含铜沉淀相形状为 A. 蝶形 B. 盘状 C. 球形 D. 两个半球形粒子 推测图中P1、P2、P3各沉淀相在样品中所处深度（从上表面到下表面深度依次增大） A. P1=P2=P3 B. P1P3P2 C. P1P3P2 D. P3P1P2 如右图为化学气相沉积的金刚石颗粒的扫描电镜二次电子象。 请判断A、B、C三个面的法线与入射电子束的夹角大小，从大到小排列为： A. ABC B. ABC C. ACB D. CAB 假定入射电子束与A面垂直，A面为（111）晶面，B面为（101）晶面，则B面法线与入射电子束的夹角为 A. 35.3