特_种_设_备_无_损_检_测_RT_专_业_Ⅱ级理论试卷(闭卷)..docVIP

特 种 设 备 无 损 检 测 RT 专 业 Ⅱ级理论试卷（闭卷） 一、是非题（20 题，每题 2 分，共 40 分。对画○，错画×） 得分： 阅卷人: 1、X、γ射线与红外线、可见光的区别只是在于波长不同以及产生的方法不同。 （ × ） 2、γ射线在空气中以光速直线传播。 （ ○ ） 3、线衰减系数与射线能量、物质的原子系数和密度有关。 （ ○ ） 4、放射性同位素的比活度越大，其辐射强度也就越大。 （ × ） 5、金属 增 感 屏 除 有 增 感 作 用 外 ，可吸 收 散 射 线 ，提高 影 像 对 比 度 。 （ ○ ） 6、X 射线管焦点的大小与管电压、管电流无关。 （ × ） 7、在任何情况下，同位素放射源装置都优于 X 射线设备，这是由于使用它能得到更高的对 比度和清晰度。 （ × ） 8、像质计通常用与被检工件材质相同或对射线吸收性能相似的材料制作。 （ ○ ） 9、Ir192 射线源比 X 射线源对人体的伤害大。 （ × ） 10、几何不清晰度 Ug 与固有不清晰度 Ui 相等时的焦距值是射线照相的最佳焦距。 （ ○ ） 11、底片上出现黑度低于周围背景黑度的“B”字影像，说明背散射防护符合要求。 （ × ） 12、底片 对 比 度 越 大 ，影 像 就 越 容 易 被 观 察 和 识 别 。 （ ○ ） 13、滤板的作用相当于减小管电压。 （ × ） 14、像质计灵敏度 2％，就意味着尺寸大于透照厚度 2％的缺陷均可被检出。 （ × ） 15、梯噪比高的胶片成像质量差。 （ × ） 16、对平板（纵焊缝）照相时，底片上各点的几何不清晰度是不同的。 （ ○ ） 17、黑度是影响小缺陷射线照相清晰度和对比度的共同因素。 （ × ） 18、在采用双壁单影法透照环缝时，为得到较大的一次透照长度，应选择较大的焦距。（ × ） 19、无水亚硫酸钠在显影液和定影液中都是起保护剂的作用。 （ ○ ） 20、当 X 或γ射源移去以后工件不再受辐射作用，但工件本身仍残留极低的辐射。 （ × ） 二、单项选择（10 题，每题 2 分，共 20 分 。） 得分： 阅卷人: 1、在射线探伤中应用最多的三种射线是： （ C ） A．X 射线、γ射线和β射线； B．α射线、β射线和γ射线； C．X 射线、γ射线和中子射线； D．X 射线、γ射线和α射线。 2、放射性同位素衰变时，原子核衰变的方式通常是： （ D ） A．粒子发射； B．K 俘获； C．裂变； D．A 和 B。 3、实际使胶片卤化银颗粒感光的因素是： （ C ） A．X 或γ光量子； B．α粒子； C．电子； D．中子。 4、提 高 灯 丝 温 度 的 目 的 是 ： （ B ） A．发射电子的能量增大； B．发射电子的数量增多； C．发出 X 射线的波长较短； D．发出 X 射线的波长较长。 5、决定细节在射线底片上可记录最小尺寸的是： （ C ） A．对比度； B．不清晰度； C．颗粒度； D．以上都是。 6、工件中靠近射源一侧的缺陷图像，在下列哪种情况下清晰度最差： （ C ） A．焦距增大； B．焦点尺寸减小； C．工件厚度增大； D．胶片与工件距离减小。 7、锻件法兰对接焊缝射线照相，提高照相质量最重要的措施是： （ C ） A．提高管电压增大宽容度 B．使用梯噪比高的胶片 C．使用屏蔽板减少“边蚀” D．增大焦距提高小裂纹检出率 8、透照板厚一定且有余高的焊缝，散射比随有效能量的减小而： （ A ） A．增大； B．减小； C．不变； D．不一定。 9、在哪一种情况下，底片的有效评定范围会超出搭接标记以外： （ B ） A．环缝双壁单影透照，搭接标记放在胶片侧； B．环缝单壁外透法，搭接标记放在胶片侧； C．环缝单壁外透法，搭接标记放在射源侧； D．环缝中心透照法，搭接标记放在胶片侧。 10、射线的生物效应，与下列什么因素有关： （ D ） A．射线的性质和能量； B．射线的照射量； C．肌体的吸收剂量； D．以上都是。 三、问答题（4 题，每题 5 分，共 20 分 。） 得分： 阅卷人: 1、什么叫半价层？它在检测中有哪些应用？ 答：使入射射线强度减少一半的吸收物质的厚度称为半价层，用符号 T1/2 表示。 射线检测中，通常利用半价层来评价射线的穿透力，表示 X 射线的有效能量，标定 X 射 线标准源。 2、试述 X 射线机训练的目的和原理。 答：新的或长期不用的 X 射线机使用前必须进行训练，其目的是为了提高 X 射线管真空 度，保证仪器工作稳定