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超声波检测 内容 超声检测的概述 超声波定义 频率约高于20000Hz（超过人耳可听范围）的声波超声检测的概述 本质 物理参数超声检测的概述 反射 由于介质1与介质2中的声速不同，当声波从第一介质斜射入第二介质时，倾斜入射到第二界面上的波，在穿过界面后会改变其传波方向，这种效应称为折射。 入射角与折射角及介质1与介质2之间的关系为：C1：第一介质声速C2：第二介质声速超声检测的概述 反射 当声波从第一介质倾斜入射到第二介质界面上时，一部分声波通过界面在第二介质中产生折射。而另一部分声波没有穿过界面，却返回到原来的介质中，这一现象称为波的反射。 反射为：C1：第一介质声速C2：第二介质声速超声检测的概述 波形 纵波：声波在介质中传播时，介质质点的振动方向与波的传播方向一致的波可以在各种介质中传播，在固体介质中传播时，其传播速度约为横波的两倍。横波：声波在介质中传播时，介质质点的振动方向与波的传播方向垂直的波。横波只能在固体和切变模数高的粘滞液体中传播。超声检测的概述 波形转换 当超声波倾斜入射到界面时，除产生同种类型的反射和折射外，还会产生不同类型的反射和折射波，这种现象称为波形转换。超声检测的概述 一定种类的入射波，纵波倾斜入射到固体物质的界面上，它不仅产生纵波和横波的反射，也产生透射的纵波和横波折射，各种反射波和折射波的方向符合反射、折射定律：在均匀介质中横波的传播速度总要慢于纵波，这导致横波折射角总是小于纵波的折射角和反射角。超声波检测仪 超声波检测仪 超声波检测仪 超声波检测仪 超声波检测仪 超声波检测仪 超声波检测仪 超声波检测仪 超声波检测仪 超声波检测仪 数字化A型显示超声波检测仪有多种形式： 峰值采样法 全波采样法 模拟数字混合方式换能器 超声波探头 超声波探头 接触式纵波直探头： 超声波垂直于发射面发出，用于探测基本平行于探测面的平面或立方体型缺陷。 联合双晶探头： 联合双晶探头一般可为两类： ⑴接触式纵波联合双晶探头 使用接触式纵波联合双晶探头时，发射电脉冲在激励压电晶片的同时也进入仪器的接收电路。同于仪器放大器的阻塞，无法探测近探测面的缺陷纵波联合双探头的结构就是二个纵波单探头的组合，一个用于发射一个用于接收，收发探头都有各自的延迟块，而且两延迟块声束入射平面均带一倾角，倾角的大小（决定F焦距大小，倾角越小，焦距越大）则取决于要探测区域距探测面的深度。 ⑵接触式横波联合双探头 横波联合双探头是将二个横波斜探头向中偏一个内倾角构成的（指声程较近者，远则无须），从而提高信噪比。超声波探头 液浸探头、液浸聚焦探头： 液浸探头用于水（液体）浸法探伤，多用于自动、半自动探伤（叙特点！）在液浸探头的晶片平面上加上声透镜即可成为液浸聚焦探头，其性能是声强增加，灵敏度提高。 接触式斜探头： 斜探头有横波斜探头、瑞利波斜探头（表面波）、纵波斜探头（小角度）、蓝姆波斜探头（板波）接触式及可变角斜探头等多种形式，这里仅介绍一般横波斜探头。 横波斜探头主要用于探测与探测面成一定角度的平面型及立方体型缺陷，应用广泛。 接触式聚焦探头： 接触式聚焦探头可分为三类：透镜式、反射式和曲面晶片式。超声波探头 超声波探头 超声波探头 探头与仪器的连接 为了消除外来电波对探头的激励脉冲及回波脉冲产生影响，探头须用同轴高频电缆。注意事项如下： 对于用石英、硫酸锂等压电晶片所制成的探头，不能任意配用非规定的（长度、种类）电缆。 用锆钛酸铅、钛酸钡等压电晶片所制成的探头时，电缆的种类、长度影响不大。 电缆接口的表示方法 螺扣：用“L”表示，后面数字表示直径； 卡扣：用“Q”表示，后面数字表示直径； 插扣：用“C”表示，后面数字表示直径。超声波探头 超声波探头 超声波探头 超声波探头 超声波探头 超声波探头 超声波探头 超声波探头 压电晶片 发射、接收超声波。 逆压电效应：发射超声波 压电效应：接受超声波 材料：石英、钛酸钡、偏铌酸锂等超声波探头 超声波探头 直探头 直探头用于发射和接收纵波。它发射的声波方向垂直于工件表面，其结构如下图：超声波探头 直探头检测原理 当工件表面存在缺陷时，缺陷将声波全遮住，无声波到达工件底面，仪器示波屏上只有缺陷波的反射：换能器 斜探头 在实际工作中所遇到的缺陷，更多的是与检测面不平行。在这种情况下，就会用到斜探头，以一定的角度对工件进行入射以达到检测的目的，斜探头的结构如下图：超声波探头 斜探头检测原理 当采用斜探头时，波束轴线在探测面处折射，工作中的缺陷的位置由探头的折射角和声程确定，利用三维坐标，可将反射体（缺陷）的位置清晰地描述下来。试块 试块 IIW试块（CSK-IA）试块 IIW试块（CSK-IA）的作用 校验超声波仪的时间基线线性（水平线性）及垂直偏转线性；