第四章 多晶体的方法课题.pptVIP

第四章 多晶体分析方法 §4.1 引言 ㈡.德拜相机 德拜相机剖面示意图 二.试样及底片安装 3. 摄照规程的选择 四、德拜相的误差及修正 （一）试样吸收误差试样对X射线的吸收造成衍射线偏离理论位置，因此在计算时需对2L进行修正。考虑到金属材料对X射线吸收较强烈，可认为仅是试样表面受到照射（0.02mm)2L0= 2L外缘－2? 其中：2L0 —— 弧对的平均理论距离2L外缘 ——试样吸收后得到的实际弧对距离—— 圆柱试样的半径 （二）底片伸缩误差 由于相机直径制造误差、底片安装误差(未紧贴相机内腔)、或底片在冲洗过程伸缩2?R误差影响θ角的准确度 所以，利用偏装法直接测量底片周长，避免上述误差，称为有效周长C0 五. 立方系物质德拜相的计算 （一）物相鉴定步骤 1、对弧对标号； 2、测量有效周长C0；（0.01mm) 3、测量并计算弧对间距2L； 4、计算θ； 5、按布拉格方程计算d; 6、估计相对强度； 7、查卡片确定物相。 衍射线的干涉指数 （三）计算点阵参数 按照立方系晶面间距公式 注意：高θ计算结果较精确 §4.3 X射线衍射仪 一. 衍射仪的构造及几何光学 多晶试样，粉末(粒度与Debye法的相似）或块状； 样品框：20 X 15 X 2mm 3.测角仪的光学布置 狭缝尺寸选择： 发散狭缝和防散狭缝的大小以度计，如常用的有2o、1o、0.5o 等，一般二者采用相同的尺寸； 接收狭缝用毫米表示，如0.1mm、0.2mm等； 过宽分辩本领下降； 过窄射线强度较弱，费时、不易检测到弱射线。 5. 弯晶单色器为了较好地消除K?线，并降低由于连续X射线及荧光辐射所产生地背底，采用晶体单色器（普遍用石墨弯晶单色晶体）与测角仪联用。如图4－16示。由于试样、单色晶体对X－ray 的偏振，故使用单色晶器时偏振因数变为：(1＋cos22θcos22 ?)/2 工作原理：衍射X-ray →惰性气体电离→电子加速（600－900V）向阳极→气体再电离→血崩→大量电子→计数器输出电压脉冲→附属电路 特点：(1)脉冲峰值与所吸收X-ray光量子能成正比,测 定强度较可靠；(2)反应快，两个脉冲之间的分辩时间10－6s;(3)性能稳定，能量分辨率高，背底脉冲低. 缺点: 对温度敏感，对电压稳定度要求高，需要较强大的电压放大设备。 2.闪烁计数器（SC) 构造示意图如4－18 二）计数测量中的主要电路 测量中的主要电路的功能： ⑴保证计数器能有最佳状态的输出脉冲； ⑵把计数电脉冲变为直观读取或记录的数据。 主要有以下几个装置： 1. 脉冲高度分析器：利用计数器产生的电脉冲高度（脉冲电压）与X射线光子能量成正比的原理来判断脉冲高度，达到剔除干扰脉冲，提高峰背比的目的。 主要组成为 X射线衍射仪的主要组成及功用 §4.3 X－ray衍射仪的常规测量 一）. 连续扫描 处理后的衍射谱 2. 阶梯扫描法（步进扫描法） 二.实验参数的选测 本 章 结 束 识别Kα和Kβ衍射线的依据 (1).根据布拉格方程:sinθ与波长成正比，由于Kβ的波长比Kα短。所以，θβ小于θα并且Kα和Kβ线之间存在着如下的固定关系： (2).入射线中Kα的强度比Kβ大3～5倍，因此在衍射花样中的Kα线的强度也要比Kβ大得多。这一点是鉴别Kα和Kβ的重要参考依据。 (3).注意几点：K α 、K β 线：Kβ线强度低且θ角较小。K α1 与 K α2 双线：角度稍小而强度较大的为Kα1线。 六.相机的分辨本领 1、 定义：所谓相机的分辨本领是指当晶面间距发生变化所引起的衍射线条位置相对改变的灵敏程度。 2、 ?和以下因素有关： ⑴. 相机半径R越大，分辨本领越高；这是利用大直径相机的主要优点。但是相机直径的增大，会延长曝光时间，并增加由空气散射而引起的衍射背底。 ⑵. θ角越大， ? 越高；所以衍射花样中高角度线条双线可明显的分开。 ⑶. λ越长， ?越高;应尽量采用波长较长的X射线源。 ⑷. 面间距越大， ? ↓；因此，在分析大晶胞的试样时，应尽可能选用波长较长的X射线源，以便抵偿由于晶胞过大对分辨本领的不良影响。 A.?用各种辐射探测器代替照相底片来记录和测量X射线衍射花样 B.?组成部分：X射线发生器、测角仪、辐射探测器等。 C.?优点：（1）工作效率高（照相法、底片处理时间长）;（2）探测器灵敏度高;（3）样品范围广，制样简便，分析快速，结果直观。 X射线衍射仪需要解决的技术问题： 1.X射线接收装置———计数管； 2.衍射强度必须适当加大，为此可以使用板状试样； 3.相同的（h k l ）晶面也是全方向散射的，所以要聚焦； 4.计数管的移动要满足布拉格条件。 这些问题解决