材料现代研究方法5章x(免费阅读).pptVIP

第五章 完 * 第五章 X射线晶体分析方法 第一节 X射线衍射方法 要想产生衍射，必须满足布拉格方程。从衍射矢量方程看，只有反射球有充分的机会与倒易点相交，方能产生衍射现象。可以改变 ?和?达到此目的。 一、周转晶体法：用单色(标识)X光，照射转动的单晶体。 ?不变，?变，使反射球总有机会与某些倒易节点相交。 二、劳埃法： 用多色(连续)光，照射固定不动的单晶体， ?不变， ?变化。所以有一系列与之相对应的反射球连续分布在一定的区域。而使反射球总有机会与某些倒易点相交。 用单色(标识)X光照射多晶体样品。 ?不变，?变，固定不动的多晶体就其晶粒间的位向关系而言，相当于单晶体转动的情况。反射球有充分的机会与某些倒易节点相交而发生衍射。 三、多晶体衍射方法(粉末法)： 第二节 德拜－谢乐（粉末照相）法 由于X射线可以使照相底片感光，所以开始都采用照相方法记录和分析衍射结果。 一、成像原理 一系列倒易球与反射 球相交而形成一系列 衍射圆锥。 |g|2/? 时两球不相交 即为衍射极限条件。 二、德拜－谢乐法照相技术 1、试样：丝状。?1mm 通常采用粉末，也可以是金属丝。 2、相机 圆筒形内径两种 2R = 57.3mm 2R=114.6mm 底片： 长条状 正装法 反装法 偏装法 三、德拜相的处理 当? 450 2L = 4?R 小相机： ?=2L/2 底片上 1mm＝2o 大相机： ?=2L/4 底片上 1mm＝2o 当? 450 ? = 90o- 2L’/2 或 ? = 90o- 2L’/4 再加上一些处理校正等。 第三节 X射线衍射仪 目前X射线衍射分析主要采用衍射仪。测量具有快速、准确等有点，并可与计算机联机实现自动分析等。 一、测角仪 1、测角仪的构造 试样架：可转动， 样品为平板状 光澜系统：包括光源 狹缝 (梭拉狹缝,限高 限宽狹缝等)。 F:X射线源 S1:梭拉狹缝 H:发散狹缝 O:样品台 M:发散狹缝 S2:梭拉狹缝 G:接收狹缝 D:计数器 测角仪的光学布置 2、工作原理 样品为弯曲的形成聚焦园，但实际?变化聚焦园半径 l 也变化。所以试样做成平面状。 聚焦园半径 l 与?有关： 所以： ?? l ? ( R一定 ) 要保持试样与聚焦园相切，必须试样转 ? 角，而探测器转动 2? 角，才能保证聚焦。 3、晶体单色器 为消除衍射背底，最有效的办法是利用晶体单色器。一般在衍射线光路上，安装弯曲晶体单色器。 二、辐射探测器 (计数器) 1、正比计数器 在管内充以惰性气体，阳极为金属筒，阴极为同轴金属丝，两级加600－900V电压。 一个光子进入?气体电离?局部导电?给出脉冲?计数 脉冲大小与光子能量成正比。 分辨率 106/秒光量子速度。 无漏计数为 104/秒。 (4) 输出电压 mV级。 2、盖革计数器 当两级电压达到900－1500V时，一个光子进入将使整个管内电离而产生大脉冲。 失去正比性 输出脉冲大小固定与入射光子能量无关。 分辨能力下降 104/秒 无漏计计数 103/秒。 输出电压 V级 （目前已经淘汰） 3、闪烁计数器 闪烁计数器是利用X射线激发某些固体物质(磷光体)发射可见荧光，并通过光电管进行测量。 正比性 与入射线X光子的能量有关 分辨能力高 无漏计数率 105/秒 输出脉冲 V级 产生无照明电流 (干扰分析 增加麻烦) 4、脉冲高度分析器 是一种特殊的电子电路，它与滤片配合使用可使X射线的单色化得到改善。 只让超过某一选定大小的脉冲通过，叫脉冲高度甄别器。 脉冲高度分析仪 上甄别器 下甄别器 三、定标器与计数率仪 1、定标器：用来测量平均脉冲速率。 1）定时计数法： 2）定数计时法： 2、计数率仪 能给出平滑的平均脉冲速率的装置。能连续测出平均脉冲速率。（通过RC电路完成） 四、衍射线强度的计算与测量 1、强度计算 衍射仪采用平板试样不仅能产生聚焦作用，还能使吸收因子摆脱?角的影响。衍射强度公式中吸收因数一项为1/2?l ，所以多晶体衍射强度公式为： 2、强度的测量 (1) 连续扫描测量法 将计数器连接到计数率仪上，通过转动连续测得某角度范围内的衍射强度。根据不同的要求可以测定整个衍射花样，也可以测定局部衍射线的分布，可以采用不同的扫描速度。 (2) 阶梯扫描测量法 将计数器连接到定标器上，通过手动方法预置于某个2?角测定强度，之后转动一个很小的角度，逐点测量所需要的衍射，并连成曲线。 五、