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- 2016-12-22 发布于重庆
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将内标法定量分析的基本公式 logR=log(I分/ I内)= blogC+log K 代入前式(即左下式)得下列右式: ΔS = S分 –S内 = γ分logI分– γ内logI内 =γlg(I分/I内) ΔS = S分 –S内 = γ logR = γ log(I分/ I内) = γ blogC+ γ log K 此即基于内标法原理的以摄谱法进行光谱定量分析的基本关系式。 E、基体效应的影响 试样组份影响弧焰温度,弧焰温度又直接影响待测元素的谱线强度,由于其它元素共存而影响待测元素谱线强度的作用称为第三元素的影响或基体效应,对于成分复杂的样品来说,第三元素的影响往往是很显著的同并引起较大的分析误差。 为了减少试样成分对弧焰温度的影响,稳定弧焰温度,经常加入一些光谱添加剂(如缓冲剂)。 3、AES定量分析方法 a.工作曲线法:三标准试样法 log I log C log I = b log C + log A ΔS logC ΔS = blogC+ γ log A logC logR logR=log(I分/ I内)= blogC+log A b.标准加入法(增量法) 当测定低含量元素,无合适的基体配制标准样品时采用此法。见P35 此法在火焰光度法中有应用
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