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第一章一、选择题1. M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（ B ）Kα；B. Kβ；C. Kγ；D. Lα。2. 当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（ C ）Cu；B. Fe；C. Ni；D. Mo。3. 当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（ A ）短波限λ0；B. 激发限λk；C. 吸收限；D. 特征X射线4.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（ D ） 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）二、正误题1. 激发限与吸收限是一回事，只是从不同角度看问题。（ √ ）2. 经滤波后的X射线是相对的单色光。（ √ ）3. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。（√ ）4. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。（ × ）三、填空题1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生 连续X射线和 标识X射线。2. 当X射线管电压低于临界电压仅产生连续X射线；当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续X射线和特征X射线。 3. 特征X射线的产生过程中，若K层产生空位，由L层和M层电子向K层跃迁产生的K系特征辐射按顺序称Kα射线和Kβ射线。 4. X射线的本质既是 光 也是 电磁波 ，具有 波粒二象 性。 5. 短波长的X射线称 硬X射线 ，常用于 金属部件的无损探伤 ；长波长的X射线称 软X射线 ，常用于 医学透视上 。6.连续谱短波限只与管电压有关。7.特征X射线谱的频率或波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构。四、问答题什么叫“相干散射”、“短波限”？答：相干散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振动。这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。 短波限，连续X射线谱在短波方向有一个波长极限，称为短波限λ0.它是由光子一次碰撞就耗尽能量所产生的X射线。特征x射线谱的产生机理。答：高速运动的粒子（电子或光子）将靶材原子核外电子击出去，或击到原子系统外，或填到未满的高能级上，原子的系统能量升高，处于激发态。为趋于稳定，原子系统自发向低能态转化：较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁，这一降低的能量以一个光子的形式辐射出来变成光子能量，且这降低能量为固定值（因原子序数固定），因而λ固定，所以辐射出特征X射线谱。第二章一、选择题1.最常用的X射线衍射方法是（ B ）。A. 劳厄法；B. 粉末法；C. 周转晶体法；D. 德拜法。2.射线衍射方法中，试样为单晶体的是（D ）A、劳埃法 B、周转晶体法 C、平面底片照相法 D、 A和B3.晶体属于立方晶系，一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4，则该晶面的指标为（ B）?A、(364)?? B、(234)?? C、(213)? D、(468)4.立方晶系中，指数相同的晶面和晶向（B ）A、相互平行 B、相互垂直 C、成一定角度范围 D、无必然联系5.晶面指数（111）与晶向指数（111）的关系是（ C ）。 A. 垂直； B. 平行； C. 不一定。6.在正方晶系中，晶面指数{100}包括几个晶面（ B ）。 A. 6； B. 4； C. 2 D. 1；。7.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（?B ）A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它二、判断题1.X射线衍射与光的反射一样，只要满足入射角等于反射角就行。（ × ）2.干涉晶面与实际晶面的区别在于：干涉晶面是虚拟的，指数间存在公约数n。（√）3.布拉格方程只涉及X射线衍射方向，不能反映衍射强度。（√ ）三、填空题1.本质上说，X射线的衍射是由大量原子参与的一种散射现象。2.布拉格方程在实验上的两种用途是结构分析和X射线光谱学。3.粉末法中晶体为多晶体，不变化，变化。4.平面底片照相法可以分为透射和背射两种方法。5.平面底片照相方法适用于研究晶粒大小、择优取向以及点阵常数精确测定方面。四、问答题1．布拉格方程 2dsinθ=λ中的d、θ、λ分别表示什么？布拉格方程式有何用途？答：dHKL表示HKL晶面的面网间距，θ角表示掠过角或布拉格角，即入射X射线或衍射线与面网间的夹角，λ表示入射X射线的波长。该公式有二个方面用途：（1）已知晶体的d值。通过测量θ，求特征X射线的λ，并通过λ判断产生特征X射线的元素。这主要应用于X射线荧光光谱仪和电子探针中。（2）已知入射X射线的波长， 通过测量θ，求晶面间距。并通过晶面间距，测定晶体结构或进行物相分析。2．某一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来，其θ较高抑或较低？相应的d较大还是较小？答：背射