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- 2016-12-23 发布于重庆
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光栅光谱仪的应用WGD-3型组合式多功能光栅光谱仪,包括滨松公司生产的CR114型光电倍增管,最小分辨率0.1nm。出入射缝宽以及负高压对信号影响滤色片透射光谱混合溶液吸光度变化测量多种光源的发射光谱出入射缝及负高压对信号的影响入射缝对信号影响使用了高斯分布获得峰值信息半高宽: f(x) = p1*x + p2 p1 = 0.5(0.01387, 0.9861) p2 = 1.007(0.8431, 1.171) Adjusted R-square: 0.7083峰值: f(x) = p1*x + p2 p1 = 1666(1423, 1909) p2 =85.64(3.783, 167.5) Adjusted R-square: 0.9917出射缝对信号影响峰值 f(x) = p1*x + p2 p1 =1892(1543, 2241) p2 =-18.34(-150, 113.3) Adjusted R-square: 0.9867半高宽 f(x) = p1*x + p2 p1 =1(0.3635, 1.636) p2 =0.69(0.4497, 0.9303) Adjusted R-square: 0.8571负高压对信号影响f(x) = a*x^ba=2.661e-015(-1.413e-014, 1.945e-014) b =7.354(6.178, 8.53)A
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