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IGBT的
IGBT的基本结构绝缘栅双极晶体管本质上是一个场效应晶体管,只是在漏极和漏区之间多了一个P型层。根据国际电工委员会 IEC/TC(CO)1339文件建议,其各部分名称基本沿用场效应晶体管的相应命名。图2-53所示为一个N沟道增强型绝缘栅双极晶体管结构,N+区称为源区,附于其上的电极称为源极。N+区称为漏区。器件的控制区为栅区,附于其上的电极称为栅极。沟道在紧靠栅区边界形成。在漏、源之间的P型区(包括P+和P 一区)(沟道在该区域形成),称为亚沟道区(Subchannel region)。而在漏区另一侧的P+区称为漏注入区(Drain injector),它是IGBT特有的功能区,与漏区和亚沟道区一起形成PNP双极晶体管,起发射极的作用,向漏极注入空穴,进行导电调制,以降低器件的通态电压。附于漏注入区上的电极称为漏极。
为了兼顾长期以来人们的习惯, IEC规定:源极引出的电极端子(含电极端)称为发射极端(子),漏极引出的电极端(子)称为集电极端(子)。这又回到双极晶体管的术语了。但仅此而已。
IGBT的结构剖面图如图2-53所示。它在结构上类似于 MOSFET,其不同点在于IGBT是在N沟道功率MOSFET的N+基板(漏极)上增加了一个P+基板(IGBT 的集电极),形成 PN结j1,并由此引出漏极、栅极和源极则完全与MOSFET 相似。
由图2-5 4可以看出,IGBT相当于一个由MOSFET 驱动的厚基区GTR,其简化等效电路如图2-55 所示。图中Rdr是厚基区GTR 的扩展电阻。IGBT 是以GTR为主导件、MOSFET 为驱动件的复合结构。
N沟道IGBT的图形符号有两种,如图2-56。所示。实际应用时,常使用图2 -5 6b所示的符号。对于P沟道,图形符号中的箭头方向恰好相反,如图 2-57所示。IGBT的开通和关断是由栅极电压来控制的。当栅极加正电压时,MOSFET内形成沟道,并为PNP晶体管提供基极电流,从而使IGBT导通,此时,从P+区注到N 一区进行电导调制,减少N一区的电阻Rdr值,使高耐压的 IGBT也具有低的通态压降。在栅极上加负电压时, MOSFET内的沟道消失,PNP晶体管的基极电流被切断,IGBT即关断。正是由于IGBT是在N沟道MOSFET的N+基板上加一层P+基板,形成了四层结构,由PNP-NPN晶体管构成 IGBT 。但是, NPN晶体管和发射极由于铝电极短路,设计时尽可能使NPN不起作用。所以说,IGBT的基工作与NPN晶体管无关,可以认为是将N沟道MOSFET作为输入极,PNP晶体管作为输出极的单向达林顿管。采取这样的结构可在N一层 作电导率调制,提高电流密度。这是因为从P+基板经过N+层向高电阻的N--层注入少量载流子的结果。 IGBT 的设计是通过PNP-NPN晶体管的连接形成晶闸管。
IGBT的工作原理和工作特性IGBT的开关作用是通过加正向栅极电压形成沟道,给PNP晶体管提供基极电流,使IGBT 导通。反之,加反向门极电压消除沟道,流过反向基极电流,使IGBT关断。IGBT的驱动方法和MOSFET 基本相同,只需控制输入极N 一沟道MOSFET,所以具有高输入阻抗特性。
当MOSFET的沟道形成后,从P+基极注入到N 一层的空穴(少子),对N 一层进行电导调制,减小N 一层的电阻,使IGBT在高电压 时,也具有低的通态电压。
IGBT的工作特性包括静态和动态两类:
静态特性IGBT的静态特性主要有伏安特性、转移特性和开关特性。IGBT的伏安特性是指以栅源电压Ugs为参变量时,漏极电流与栅极电压之间的关系曲线。输出漏极电流比受栅源电压Ugs的控 制,Ugs越高 Id 越大。它与GTR的输出特性相似.也可分为饱和区1、放大区2和击穿特性3部分。在截止状态下的IGBT,正向电压由J2结承担,反向电压由J1结承担。如果无 N+缓冲区,则正反向阻断电压可以做到同样水平,加入N+缓冲区后,反向关断电压只 能达到几十伏水平,因此限制了IGB的某些应用范围。
IGBT的转移特性是指输出漏极电流Id与栅源电压Ugs之间的关系曲线。它与MOSFET的转移特性相同,当栅源电压小于开启电 压Ugs(th)时,IGBT处于关断状态。在IGBT导通后的大部分漏极电流范围内, Id与Ugs呈线性关系。最高栅源电压受最大漏极电流限制,其最佳值一般取为15V左右。
IGBT的开关特性是指漏极电流与漏源电压之间的关系。IGBT处于导通态时,由于它的PNP晶体管为宽基区晶体管,所以其B值极低。尽管等效电路为达林顿结构,但流过MOSFET的电流成为IGBT总电流的主要部分。此时,通态电压Uds(on)可用下式表示
Uds(on)=Uj1+Udr+IdRoh(2-14)
式中Uj1 —— JI结的正向
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